판매용 중고 KLA / TENCOR Candela C2 #293809884

KLA/TENCOR Candela C2 Wafer Testing and Metrology Equipment는 반도체 웨이퍼의 고급 표면 및 지형 특성을 위해 고도로 정확하고 자동화된 시스템입니다. 회사의 독점적 인 NCP (Non-Contact Profilometry) 및 SEM (Scanning Electron Microscopy) 이 장착 된이 장치는 단일 및 다중 장치 기능을 제공하여 전례없는 정확성과 번개 속도를 통해 웨이퍼의 중요한 지형 기능을 식별 할 수 있습니다. KLA Candela C2의 중심에는 KLA NCP 기계와 SEM이 있습니다. NCP 도구를 사용하면 XY 스캐닝 해상도 (XY scanning resolution) 정확도가 최대 0.1um인 지형 데이터를 매우 정확하고 동적으로 캡처할 수 있습니다. 그런 다음, SEM 에셋에 의해 NCP 데이터가 활용되어 더 높은 수준의 세부 (detail) 를 제공하여 중요한 지형 기능을 분석하고 주변 기능을 확인할 수 있습니다. TENCOR C2 (TENCOR C2) 는 상세한 특성화뿐만 아니라 웨이퍼 테스트 및 도량형 프로세스를 보다 효율적으로 수행할 수 있도록 설계된 다양한 기능도 제공합니다. 이 모델에는 고해상도 측정 장비 (High Resolution Measuring Equipment) 가 장착되어 있으며, 크기와 모양이 다른 기능을 빠르게 감지하고 특성화할 수 있습니다. 강력한 이미지 분석 (image analysis) 제품군과 함께 이 효과적인 기능 사냥 시스템은 각 기능에 대한 광범위한 심층 특성을 제공합니다. 또한 KLA/TENCOR C2에는 강력한 자동 이미지 등록 장치 (Automated Image Registration Unit) 가 장착되어 있어 여러 웨이퍼의 지형 기능을 정확하고 신속하게 찾고 비교할 수 있습니다. 이 자동화 머신은 대규모 웨이퍼 레벨 분석을 수행하는 효율적인 방법을 제공합니다. KLA C2 Wafer Testing and Metrology Tool은 고급 반도체 웨이퍼 특성화를위한 포괄적 인 솔루션을 제공합니다. 이 자산의 독점적 인 NCP 모델은 SEM의 빠른 속도와 정확도와 함께, 전례없는 정확도와 속도로 동적, 비 접합 표면 및 지형 특성을 허용합니다. 자동 이미지 등록 (Automated Image Registration) 및 기능 사냥 (Feature Hunting) 장비는 시스템의 성능을 더욱 향상시켜 다중 웨이퍼를 효율적으로 대규모 분석할 수 있습니다. C2는 반도체 웨이퍼 개발 및 테스트에 귀중한 도구입니다.