판매용 중고 KLA / TENCOR Candela 6100 #293597436

KLA/TENCOR Candela 6100은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반도체 산업을위한 고급 집적 회로 (IC) 를 분석하도록 설계되었습니다. 전류, 전압, 정전기, 인덕턴스, 저항, 전력 및 주파수 특성을 측정하는 등 마이크로 전자 장치에 대한 다양한 측정을 수행합니다. 이 시스템은 5 개의 모듈, 즉 1 개의 메인프레임과 4 개의 고급 감지기로 구성됩니다. KLA Candela 6100 장치의 메인프레임은 Windows NT 4.0을 실행하는 펜티엄 III 프로세서로 구동됩니다. 8GB의 RAM과 140GB의 하드 드라이브 스토리지 용량이 장착되어 있습니다. 또한 데이터 입력 및 문서 탐색을 위해 연결된 키보드 (Keyboard) 및 포인팅 장치 (Pointing Device) 가 있는 컬러 LCD 디스플레이가 있습니다. 4 개의 검출기 중 하나는 고전압 검출기입니다. 이 탐지기는 고전압 펄스를 사용하고 결과 파형을 모니터링하여 고전압 저항 (High-Voltage Resistance) 및 커패시턴스 (Capacitance) 와 같은 매개변수를 측정합니다. 두 번째 탐지기 인 파형 측정 모듈 (Waveform Measurement Module) 은 전압 대 시간을 플롯하여 복잡한 파형을 분석합니다. 세 번째 감지기 인 눈사태 펄스 생성기 (Avalanche Pulse Generator) 는 고주파 노이즈를 특성화하는 데 사용됩니다. 네 번째 검출기 인 누출 챔버 검출기 (Leakage Chamber Detector) 는 IC의 전류 누출과 전류 매개변수를 특징으로하여 IC의 전류 누출을 측정합니다. TENCOR Candela 6100은 메모리, 아날로그, 논리 및 혼합 신호 IC를 포함한 광범위한 IC 테스트에 적합합니다. 다중 매개변수 (parameter) 를 실시간으로 모니터링하고 사용자가 선택한 형식으로 생성된 보고서를 생성할 수 있습니다. 또한 통계 분석 (statistical analysis) 기능을 통해 테스트 중인 디바이스에서 성능 관련 추세를 발견할 수 있습니다. IC를 디버깅 및 분석하기 위해 Candela 6100은 여러 가지 고급 디버깅 도구를 제공합니다. 이러한 중 일부에는 파형 분석을위한 파형 뷰어, 랜덤 이벤트 특성화를위한 노이즈 분석 도구, 단일 테스트 지점에서 다양한 매개 변수를 측정하기위한 SMU 매트릭스 (SMU Matrix) 가 포함됩니다. KLA/TENCOR Candela 6100은 유사한 테스트 시스템 네트워크에 통합되어 있습니다. 이더넷, RS232, PCI 등 다양한 통신 프로토콜을 지원하므로 다양한 데이터 통신 요구 사항에 적합합니다. 측정의 정확성과 정확성을 보장하기 위해 KLA 칸델라 6100 (KLA Candela 6100) 은 고급 교정 기계를 사용하여 테스트 중인 IC의 특정 요구에 맞게 조정합니다. 또한 온도가 내장된 안정성 도구를 통해 온도 조절 환경에서 측정 (measuration) 을 수행 할 수 있습니다. TENCOR Candela 6100은 하이엔드 IC를 분석하기위한 강력하고 안정적인 테스트 자산입니다. 광범위한 측정 기능을 제공하며, 포괄적인 디버깅/분석 툴을 제공합니다.