판매용 중고 KLA / TENCOR Candela 6100 #293597435

KLA/TENCOR Candela 6100 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 집적 회로의 전기 특성을 측정하기 위해 반도체 제작 프로세스에 사용되는 도구입니다. 자동 (automated), 고속 (high-throughput) 웨이퍼 테스트 및 도량형 프로세스를 제공하여 총 주기 시간을 단축하고 테스트 속도와 정확도를 향상시킵니다. 시스템의 주요 구성 요소는 On-wafer 측정 헤드, MEP (Measurement Electronics POD), CMS (Carrier-based Measurement Unit) 및 타사 자동화 upper입니다. 온웨퍼 (on-wafer) 측정 헤드는 전기 특성을 측정하기 위해 물통과 물리적으로 상호 작용하는 기계의 부분입니다. 여기에는 측정 과정에서 유지되는 프로브 (Probe) 가 포함되며, Wafer (웨이퍼) 가 적용될 수 있도록 제대로 배치됩니다. 측정 전자 (Measurement Electronics) POD는 제어 환경에서 작동하고, 웨이퍼 (on-wafer) 측정 헤드의 데이터를 수집, 필터링 및 분석하는 주요 장비입니다. 한편, 캐리어 기반 측정 기계 (Carrier-based Measurement Machine) 는 동일한 주기 동안 여러 웨이퍼의 측정 및 테스트 결과를 통합하여 제조업체의 프로세스를 최적화하는 데 도움이 되는 데이터 비교 및 분석을 제공합니다. 마지막으로, 반도체 가속기 (Semiconductor Accelerator) 와 같은 타사 자동화 업퍼는 제조업체가 KLA Candela 6100을 전체 생산 프로세스에 통합하여 효율성을 극대화 할 수 있도록 허용합니다. 이 도구는 고급 타이밍 측정, 활성 노이즈 취소, 초저전압 제어, 저전류 특성, 고급 기하학적 분석, 고속 비교 등의 기능을 통해 뛰어난 테스트 속도와 정확도를 제공하도록 설계되었습니다. 또한 방사능과 디지털 장치를 포함하여 장치 테스트 증가에 최적화되었습니다. 이를 통해 반도체 제조 및 칩 (chip) 생산에서 생산량 및 프로세스 제어를 파악하고 보장하는 이상적인 도구입니다. TENCOR Candela 6100은 다양하고 확장 가능한 자산으로, 다양한 웨이퍼 크기와 기술에 적합합니다. 테스트 (Automated Testing) 및 CDP (Continuous Data Acquisition) 를 위한 기본 기능을 통해 재테스트 주기 수를 줄이고 제품 최적화를 가속화할 수 있습니다. 또한 모듈식 (modular) 구조는 신뢰성과 확장성을 향상시켜 향후 기술 요구 사항에 대한 플랫폼 역할을 합니다. 요약하면, Candela 6100은 웨이퍼 제조 공정을 최적화하기 위해 설계된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델입니다. 광범위한 웨이퍼 (Wafer) 크기와 기술에 걸쳐 빠른 속도의 정확한 측정값을 제공하며, 수율과 프로세스 제어를 증가시키는 신뢰할 수 있는 도구입니다. 고급 기능, 높은 처리량, 확장성을 통해 반도체 생산에 안정적이고 귀중한 툴이 됩니다.