판매용 중고 KLA / TENCOR AS-250 #293609691

KLA/TENCOR AS-250 Wafer Testing and Metrology 장비는 다양한 유형의 집적 회로 및 기타 마이크로 스케일 구성 요소를 측정하도록 설계된 고정밀 장비입니다. KLA AS-250은 고급 소프트웨어 및 하드웨어를 사용하여 얇은 반도체 웨이퍼를 스캔하고 측정합니다. 이 시스템은 실리콘 (silicon) 표면의 결함을 신속하고 정확하게 감지하여 공정 엔지니어 (Process Engineer) 에게 적절한 프로세스 매개변수를 결정하기 위해 빠르고 효과적인 조정이 가능한 귀중한 피드백을 제공합니다. TENCOR AS 250 장치는 붙여넣기 두께, 레이어 덮개, 입자 크기 및 모양, 박막 두께, 선 가장자리 거칠기 등 다양한 테스트를 수행할 수 있습니다. 이 기계는 높은 수치 조리개와 조절 가능한 편광 각도 (adjustable polarization angle) 를 갖추고 있어 결과의 정확성과 반복성을 보장합니다. 이 도구에는 매우 민감한 CCD 기반 이미징 모듈과 직관적인 사용자 인터페이스가 있습니다. 이 소프트웨어는 대용량 메모리 (large memory capacity) 와 고급 신호 분석 (advanced signal analysis) 기술을 통해 빠른 속도와 효율적인 웨이퍼 테스트를 제공합니다. 또한 인라인 도량형 도구 (inline metrology tool) 를 포함하며, 이 도구는 통합 칩 및 기타 컴포넌트의 서피스 지형과 관련된 다양한 매개변수를 측정할 수 있습니다. TENCOR AS-250은 반도체 제조 산업의 요구 사항을 충족시키기 위해 제작되었습니다. 인체 공학적으로 효율적이도록 설계되었으며, 프로세스 엔지니어 (process engineer) 가 인체 오류를 제거하는 환경에서 쉽게 자산을 탐색할 수 있는 편안한 환경을 제공합니다. KLA AS 250은 통합 환경 보호 필터, 방진 (dust-proof) 케이스와 같은 여러 가지 중요한 안전 기능을 제공합니다. 이 모델은 또한 안전, 효율성, 정확성에 대한 최신 글로벌 표준을 충족하도록 설계되었습니다. 결론적으로, AS-250 Wafer Testing and Metrology 장비는 얇은 반도체 부품의 특성을 정확하고 반복적으로 측정하도록 설계된 강력한 도구입니다. 빠른 속도와 뛰어난 측정 정확도로, AS 250은 반도체 제조에 필요한 정밀성과 신뢰성을 제공합니다. 또한 직관적인 사용자 인터페이스와 고급 안전 기능 (Advanced Safety Features) 을 통해 사용자 친화적이며 일관된 운영 및 결과를 보장할 수 있습니다.