판매용 중고 KLA / TENCOR Altair 8900 #293654980

KLA/TENCOR Altair 8900은 제조 과정에서 반도체 부품을 측정 및 테스트하는 데 사용되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 제품은 매우 작은 구성 요소를 위해 측정 정확도 향상, 처리량 향상, 일관된 결과를 제공하도록 설계되었습니다. KLA Altair 8900은 특허 된 '레티클 및 마스크' 도량형 솔루션을 사용하여 전체 웨이퍼 표면을 지속적으로 스캔합니다. 이 기법은 정확한 데이터를 생성하며, 정확한 에지 감지 기능을 위해 온보드 디지털 신호 프로세서 (On Board Digital Signal Processor) 를 포함시켜 더욱 향상됩니다. 이 시스템은 또한 고대비 이미지 데이터를 수집하고 처리하는 고급 비전 유닛 (Advanced Vision Unit) 을 갖추고 있습니다. 여기에는 웨이퍼 표면에서 작은 변이의 고감도 및 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratio) 탐지가 포함됩니다. TENCOR Altair 8900은 정확하고, 효율적이며, 직관적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계로, 설정 및 유지 관리 시간을 최소화하면서 효율적인 웨이퍼 테스트를 지원합니다. 모듈식 설계 및 인체 공학적 구성 요소는 피로 및 피로 관련 오류를 줄이며, 운영자는 빠르고 정확하게 결과를 쉽게 구성, 테스트, 캡처할 수 있습니다. 또한 오프사이트 (off-site) 방식으로도 사용할 수 있습니다. 오프사이트 (off-site) 방식도 툴의 네트워킹 기능과 비침입, 사용이 간편한 데이터 분석 및 보고 소프트웨어에 의해 더욱 용이합니다. Altair 8900은 또한 Integrated Mapping Asset, Auto Calibration 기능, Defect Viewer 및 Reticle Capture Library를 포함한 다양한 추가 기능을 제공합니다. 통합 매핑 모델 (Integrated Mapping Model) 은 장치의 전기 특성을 빠르게 매핑하여 컴퓨터 화면에 정확하게 표시하여 신속하게 비교하고 분석합니다. 자동 교정 (Auto Calibration) 프로세스는 사용 중일 때 장비를 신속하게 교정하며, 보다 정확한 결과를 얻기 위해 수동으로 실행할 수도 있습니다. 결함 뷰어 (Defect Viewer) 는 결함의 자세한 사진과 정보를 표시하고, 레티클 캡처 라이브러리 (Reticle Capture Library) 를 사용하면 다양한 웨이퍼 캡처 이미지를 저장하고 액세스할 수 있습니다. 전반적으로 KLA/TENCOR Altair 8900은 다양하고 강력한 기능을 제공하는 고급, 신뢰성 있고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 이 장치는 광범위한 고급 기능 (advanced features) 을 통해 정확도와 속도로 매우 작은 구성 요소를 테스트하고 측정할 수 있습니다. 사용이 간편하고 직관적인 플랫폼으로, 설치, 구성, 유지 보수 시간을 최소화하고, 일관성 있고 안정적인 결과를 제공합니다.