판매용 중고 KLA / TENCOR Alpha Step IQ3 #293671816

KLA/TENCOR Alpha Step IQ3은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 결함을 감지하고, 임계 치수를 측정하고, 도량형 목표를 감지하기 위해 웨이퍼 구조를 분석하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 집중된 이온 빔 기술을 사용하여 웨이퍼 구조를 스캔, 측정 및 분석합니다. KLA Alpha Step IQ3에는 맞춤형 맞춤형 플랫폼이 있습니다. 이 플랫폼에는 2 개의 전용 빔, 이미징을위한 1 개의 집중 이온 빔, 웨이퍼 이미징 및 도량형에 모두 사용될 수있는 도량형이 있습니다. 또한 웨이퍼 결함 (wafer defect) 및 임계 치수 분석을위한 도구 모음과 재료 분석을위한 고급 피쳐가 있습니다. TENCOR ALPHA STEP IQ-3에는 고해상도 디지털 디스플레이 (Digital Display) 가 있어 운영자가 웨이퍼 구조의 자세한 이미지를 볼 수 있습니다. Wafer 내에서 결함을 빠르고 정확하게 매핑하고 측정할 수 있는 3 방향 스캐닝을 활용합니다. 또한 프로그래밍 가능한 알고리즘과 고급 데이터 처리 (advanced data processing) 기술이 적용되어 정교한 결함, 도량형 분석 및 추세가 가능합니다. TENCOR Alpha Step IQ3은 마이크로 기능 특성화를위한 고급 기능도 제공합니다. 1 나노 미터 내에서 마이크로 기능 높이를 측정 할 수 있으며 최대 200 나노 미터까지 임계 치수를 측정 할 수 있습니다. 또한 분석에 따라 결함 및 도량형 데이터를 자동으로 폴더로 정렬할 수 있는 자동 정렬 기능 (auto-sorter feature) 이 있습니다. 마지막으로 Alpha Step IQ3에는 고급 안전 및 보안 기능이 제공됩니다. 이 제품은 엄격한 액세스 제어/암호 프로토콜과 포괄적인 유닛 전체 장애 관리 툴을 사용합니다. 또한 사용자 지정 소프트웨어 모듈 (array of customized software module) 을 통해 맞춤형 애플리케이션을 손쉽게 통합할 수 있습니다. KLA ALPHA STEP IQ-3은 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계로, 사용자에게 탁월한 정확도, 속도 및 유연성을 제공합니다. 임계 치수 분석 (critical dimension analysis), 마이크로 피쳐 특성 (micro-feature characterization), 재료 분석 (materials analysis) 등 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. ALPHA STEP IQ-3 (ALPHA STEP IQ-3) 은 고급 기능과 기능을 통해 안정적이고, 정확하며, 일관된 웨이퍼 테스트 결과를 찾는 고객에게 이상적인 솔루션입니다.