판매용 중고 KLA / TENCOR Alpha Step IQ3 #293650583

KLA/TENCOR Alpha Step IQ-3 (KLA/TENCOR Alpha Step IQ-3) 은 뛰어난 웨이퍼 수준의 정확성과 다양한 두께를 제공하기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 다음을 포함하여 다양한 강력한 기능을 제공합니다. 1. 표본 (surface) 의 위치와 높이를 측정할 수 있는 이중 빔 (dual-beam), 드리프트 스캐닝 (drift-scanning) 레이저 변위 센서. 이를 통해 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 2. 광학 반사 현미경 (Optical Reflection Microscope) 은 샘플의 미세 구조의 서피스 프로파일을 측정하는 데 사용되므로, 사용자에게 결과를 시각적으로 표현할 수 있습니다. 3. 다중 채널 분광계 (multi-channel spectrometer) 와 마이크로 일렉트로닉 필터 요소 (microelectronic filter elements) 와 결합된 고속 이미징 장치 (fast imaging unit) 는 다양한 광 신호를 감지하고 샘플의 재료 조성에 대한 정보를 사용자에게 제공 할 수 있습니다. 4. 테스트/도량형 프로세스 간소화에 사용될 수 있는 자동화된 처리 시스템 (Automated Processing Machine) 과 다양한 데이터 분석 (Data Analysis) 및 처리 알고리즘 (Processing Algorithm) 을 포함한 포괄적인 소프트웨어 툴입니다. KLA 알파 스텝 (Alpha Step) IQ-3 도구는 반도체 산업의 엄격한 요구 사항을 충족시키기 위해 특별히 설계되었으며, 반도체 제조업체는 다양한 웨이퍼 샘플을 자신있게 분석 할 수 있습니다. 에셋의 이중 빔 레이저 변위 센서 (dual-beam laser displacement sensor) 는 샘플의 미세 구조 및 표면 프로파일 (surface profile) 결과를 높은 정밀도로 측정 할 수있는 반면, 광학 현미경과 이미징 모델은 장비 분석 프로세스의 기초를 형성하는 데 도움이됩니다. 또한 사용 가능한 다양한 소프트웨어 툴이 있습니다. 이 툴은 사용자가 시스템에서 최대한의 가치를 얻을 수 있도록 설계되었습니다. 전반적으로, TENCOR Alpha Step IQ-3은 매우 고급적이고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장치이며, 사용자에게 웨이퍼 레벨 결과에 대한 최고 수준의 정확성을 제공하도록 설계되었습니다. 이 기계는 강력한 센서 (sensor), 이미징 시스템 (Imaging System), 소프트웨어 (Software) 툴을 활용하여 사용자에게 탁월한 수준의 테스트 및 도량형 정밀도를 제공하여 신뢰할 수 있는 제품의 품질을 보장할 수 있습니다.