판매용 중고 KLA / TENCOR Alpha Step 300 #293757103

KLA/TENCOR Alpha Step 300은 마이크로 전자 제품의 품질 및 신뢰성을 보장하기 위해 특별히 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고급 비접촉 (non-contact) 기술을 활용하여 웨이퍼를 정확하게 측정하고 검사하며, 프로세스 변경으로 인한 제품 거부 및 다운타임을 줄입니다. 클라이 알파 스텝 300 (KLA Alpha Step 300) 은 유사한 전력을 가진 일반적인 접촉 기반 시스템보다 최대 4 배 빠른 고속 패턴 웨이퍼 테스트 속도를 포함하여 여러 가지 이점을 제공합니다. 또한 고해상도 지형 이미징 (topography imaging) 을 제공하여 사용자가 재료의 토폴로지 및 형태 학적 기능에 대한 3D 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한 지능형 결함 검사 (Intelligent Defect Inspection) 및 고급 프로세스 제어 (Process Control) 기능을 통해 빠르고 정확한 결함 검사 및 프로세스 제어 평가를 수행할 수 있습니다. TENCOR ALPHASTEP 300은 사용자 친화적으로 설계되었으며, 이미지 분석 및 결함/결함 분류를 용이하게 하는 여러 기능이 포함되어 있습니다. 사용자 정의 가능한 사용자 인터페이스 (User Interface) 를 통해 운영자는 특정 요구에 맞게 장치를 구성할 수 있습니다. 내장형 데이터 관리 시스템 (Data Management Machine) 은 모든 이미지와 테스트 결과를 저장하므로 품질 문제와 결함을 보다 쉽게 파악할 수 있습니다. 또한 동일한 결함을 자동으로 그룹화하여 재발생하는 결함을 신속하게 평가할 수 있습니다 (영문). 또한 KLA ALPHASTEP 300 은 호스트 컴퓨터에 자동 데이터 내보내기 툴 (data export tool to the host computer) 을 제공하므로 테스트 결과와 도량형을 운영 및 품질 보증 프로세스에 통합할 수 있습니다. 이 자산은 160mm 웨이퍼 테스트를 위해 설계되었으며, 높이가 0.3µm 인 기능을 측정 할 수 있습니다. 이 모델에는 500mm 이동 범위의 모터 스테이지 (motorized stage) 가 장착되어 있어 대형 웨이퍼에 적합합니다. 전반적으로, ALPHASTEP 300은 마이크로 전자 제품의 품질과 안정성을 보장하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 고속 패턴 방식의 웨이퍼 테스트 (wafer testing), 고해상도 이미징, 지능형 결함 검사 (Intelligent Defect Inspection) 및 고급 프로세스 제어는 프로세스 변경으로 인한 거부 및 다운타임을 크게 줄입니다. 사용자 친화적이며 데이터 자동 (automated data export) 기능을 갖추고 있어 모든 환경에 적합합니다.