판매용 중고 KLA / TENCOR AIT XP+ #9255307
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KLA/TENCOR AIT XP + 는 현재 및 향후 반도체 웨이퍼 기술 (예: FinFET 및 기타 고급 노드) 을 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 제품은 클라이 (KLA) 의 초정밀도 측정 도구 (초정밀도 측정 도구) 의 최신 세대이며, 고객이 웨이퍼 (wafer) 특성화 및 프로세스 제어를 한 단계 높일 수 있도록 다양한 기능과 기능을 제공합니다. KLA AIT XP + 는 전례없는 속도와 정확도로 높은 정확도를 측정할 수 있는 자동 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 측정 시스템입니다. 이 장치는 정교한 레이저 간섭계 (laser interferometer) 기반 기술을 사용하여 몇 개의 해상도로 개별 나노 스케일 (nanoscale) 기능을 측정하여 많은 실험실에서 사용되는 전통적인 광학 프로파일러를 훨씬 능가합니다. 또한, 기계는 두께 도량형, 선 너비 측정, 필름 응력 측정, 지형 이미징 등 여러 가지 다른 테스트 및 도량형 작업을 수행 할 수 있습니다. 또한 TENCOR AIT-XP + 는 여러 가지 고급 기능을 제공하여 고객은 웨이퍼 특성, 프로세스 제어, 신뢰성 프로세스를 더욱 자세히 파악할 수 있습니다. 예를 들어, 공구에는 솔리드 몰입 렌즈 (SIL) 모듈이 포함되어 있으므로 finFET과 같은 고가로 비율 구조의 정밀도를 측정할 수 있습니다. 또한, 이 자산은 광범위한 고급 데이터 분석 (Advanced Data Analysis) 기술을 제공하여 고객이 프로세스 성능을 최적화할 수 있도록 지원합니다. 또한 AIT-XP + 는 다양한 기판 및 다양한 응용 프로그램에 대한 뛰어난 정확도, 정밀도, 반복성을 제공하여 가장 다양한 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템 중 하나입니다. 또한 혁신적인 디자인과 최첨단 기술을 통해 제품 출시 시간 (Time-to-Market) 과 신뢰성 (안정성) 이 중요한 환경에서 최고의 정확성 처리에 이상적입니다. 결론적으로, AIT XP + 는 차세대 반도체 웨이퍼 기술을 위해 설계된 뛰어난 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델입니다. 업계 최고의 정확성, 정확성, 반복성, 그리고 다양한 고급 기능과 기능을 제공합니다. 또한, 혁신적인 디자인과 최첨단 기술은 매우 정확하고 빠른 처리 (processing) 에 이상적이며, 이는 고급 반도체 연구 및 개발에 가장 귀중한 도구 중 하나입니다.
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