판매용 중고 KLA / TENCOR AIT XP #293610165

KLA/TENCOR AIT XP는 반도체 웨이퍼의 다양한 기능을 분석하는 데 사용되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 웨이퍼 (wafer) 표면의 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 과 웨이퍼 (wafer) 의 다양한 기능을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 시스템은 수동 (manual) 및 자동 (automated) 운영 환경에서 모두 사용할 수 있는 완전 통합 솔루션을 제공합니다. 이 장치에는 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 와 도량형에서 높은 수준의 정확성과 정밀도를 제공하는 다양한 기능이 있습니다. 여기에는 고급 3D 비접촉 감지 (non-contact sensing) 및 정확한 고속 자동 초점 기술이 포함되어 웨이퍼 심층에서도 정확한 이미징을 달성할 수 있습니다. 이 기계는 또한 고급 고정밀도 스캐닝 (high-accuracy scanning) 및 이미지 인식 (image recognition) 기능을 사용하여 웨이퍼 표면의 다양한 결함을 식별하고 분석합니다. 또한 수동 (manual) 명령을 사용하여 공구를 제어할 수 있으므로 유연성을 높일 수 있습니다. 이 자산은 또한 강력한 소프트웨어 기반 제어 및 분석 도구 (control and analysis tools) 를 사용하여 모델에서 얻은 측정 결과를 평가합니다. 여기에는 데이터 해석, 통계 분석, 다중 센서 상관 관계 분석 및 결함 분석을위한 소프트웨어 도구가 포함됩니다. 이 기능을 사용하면 장비에서 운영자로 실시간 피드백을 자동화할 수 있습니다. 또한 모듈식 (modular) 설계를 활용하며, 다양한 고객 요구 사항을 충족하고 운영 요구 사항을 변화시킬 수 있도록 업그레이드할 수 있습니다. 이 장치는 수동 및 반자동 프로세스를 수행하는 데 사용할 수 있으며 PC, 컨트롤러, 펌웨어, 소프트웨어, 전기 캐비닛, 센서 등 다양한 구성 요소를 포함합니다. 또한 사용자는 처리량 향상, 프로세스 생산성 향상, 데이터 정확성 향상, 진단 기능 향상, 수율 향상 (Yield Enhancement) 제어 기능 등 다양한 이점을 누릴 수 있습니다. 이러한 모든 기능은 KLA AIT XP를 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 독특하고 강력한 도구로 만듭니다.