판매용 중고 KLA / TENCOR AIT III #293815979

KLA/TENCOR AIT III는 반도체 산업에 빠르고 정확한 검사 결과를 제공하기 위해 설계된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 2D 및 3D 분석 기능을 모두 제공하여 서피스 거칠기 (surface roughness), 필름 두께 (film thickness), 결함 밀도 (defect density) 와 같은 다양한 매개변수의 웨이퍼를 분석할 수 있습니다. KLA AIT III에는 평면 및 이동 광학 영상 구성 요소, 분광 분석, 수많은 사전 설정된 알고리즘이있는 종합 소프트웨어 제품군을 갖춘 매우 민감한 검사 챔버 (Inspection Chamber) 가 장착되어 있습니다. 따라서 Testing Parameter를 특정 프로세스 요구 사항에 맞게 사용자 정의하고 최적화할 수 있습니다. 이 장치는 기존의 방법에 비해 높은 스캐닝 속도와 최대 3 배 빠른 샘플 획득 시간을 제공합니다. 이러한 고속 (high speed) 기능을 통해 중요한 기능 크기와 결함 서명을 신속하게 파악하고 측정할 수 있습니다. 이 기계는 또한 다양한 렌즈 및 센서 옵션을 갖춘 강력한 광 (optical) 설계를 통해 최적의 결과를 얻을 수 있습니다. 소프트웨어 제품군은 색상 매핑, 색상 위상 제어, 명암비 개선, 공간 필터 등 다양한 이미지 처리 및 분석 옵션을 제공합니다. 이러한 기능을 통해 사용자는 웨이퍼를 정확하게 특성화하고, 제품 품질에 영향을 줄 수 있는 결함을 신속하게 감지하고 해결할 수 있습니다. 이 툴은 또한 안전한 IP 접속을 통해 안전하게 구성하고 액세스할 수 있는 안전한 자체 검사 자산 (Secure Self-Contained Inspection Asset) 을 통해 안전한 데이터 보호 기능을 제공합니다. 이를 통해 데이터가 시설을 떠나는 것을 방지하고, 모든 검사 결과가 악성 행위자로부터 보호됩니다. 또한, 이 모델은 다른 분석 시스템과 쉽게 통합되며, 원격 웹 기반 학습 및 교육 자료 (KLA) 를 갖추고 있습니다. 즉, 사용자는 항상 해당 프로세스의 최신/관련 정보에 액세스할 수 있습니다. TENCOR AIT III (TENCOR AIT III) 는 강력하고 기능이 풍부한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 사용자가 웨이퍼를 빠르고 정확하게 분석하여 제품 품질에 영향을 줄 수 있는 문제를 파악하고 해결할 수 있습니다. 강력한 소프트웨어 제품군과 고속 분석 (High Speed Analysis) 기능을 갖춘 이 시스템은 최신 반도체 (Semiconductor) 시설에 적합한 제품입니다.