판매용 중고 KLA / TENCOR AIT II #9249021

KLA / TENCOR AIT II
ID: 9249021
빈티지: 2000
Defect inspection system 2000 vintage.
KLA/TENCOR AIT II는 반도체 제조업체 및 연구 기관을 위해 설계된 KLA Corp.의 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. KLA AIT II는 여러 감지 플랫폼을 통합하여 하나의 소형 시스템에 현장 웨이퍼 테스트 및 도량형을 제공합니다. 이 장치는 고급 프로세스 제어를 위한 자동화, 정확성, 반복 가능한 도량형 데이터를 제공하며, 전체 반도체 웨이퍼 테스트, 특성, 분석 등을 수행할 수 있습니다. TENCOR AIT II는 통합 레티클 (광학 정렬 및 웨이퍼의 중요한 가장자리 정의), 다중 이미징 시스템 (직접 및 반사 광 현미경 포함, 충전 결합 장치 카메라 포함), 비접촉 광학 프로파일로미터, 자동화되고 정확한 샘플 포지셔닝 시스템, 스펙트럼 이미징 기능 및 웨이퍼 자동화 기능을 포함한 고급 기술 제품군을 갖추고 있습니다. AIT II는 자동 테스트, 실시간 시각화, 포괄적인 데이터 분석, 다중 이미징 시스템 통합 등의 고급 기능을 통해 탁월한 성능을 제공합니다. 이 시스템에는 자동화된 결함 감지 (automated defect detection) 를 포함하여 포괄적인 데이터 처리 및 분석이 가능한 통합 소프트웨어 알고리즘이 있습니다. 실시간 표면 도량형 기능을 통해 정확하고 반복 가능한 도량형 결과를 얻을 수 있으므로 더 빠른 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 고정밀 (high-precision) 검증을 수행할 수 있습니다. 또한, KLA/TENCOR AIT II는 상호 교환 가능한 이미징 및 측정 모듈을 갖추고 있으며, 서로 다른 응용 프로그램에 대해 유연한 구성을 가능하게 합니다. 이 도구는 소규모 생산 요구 사항 또는 프로세스 개발 이니셔티브, 대규모 산업 Fab (Fab) 운영에 특히 적합합니다. KLA AIT II는 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산으로, 반도체 제조가 더 높은 정밀도 및 품질 관리, 더 나은 효율, 향상된 수율을 달성 할 수 있습니다. 고급 기술은 웨이퍼 검증을 위한 포괄적이고, 자동화되고, 정확하며, 반복 가능한 테스트를 제공하며, 정밀도가 높은 도량형과 데이터 기반 프로세스 최적화가 가능합니다. TENCOR AIT II는 다양한 구성과 확실한 반복성을 통해 업계 및 연구 사용자를 위한 이상적인 솔루션을 제공합니다.
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