판매용 중고 KLA / TENCOR AIT II #293809807

KLA/TENCOR AIT II는 wafer 테스트 및 도량형 장비로, 넓은 영역에서 빠르고 효율적으로 웨이퍼 특성을 측정할 수 있도록 설계되었습니다. 많은 "웨이퍼 '의 매개변수를 동시에 측정해야 하는 반도체 제조업체에 특히 적합하다. KLA AIT II는 이미징 (Imaging) 과 분광 광도 분석 (Spectrophotometric analysis) 의 조합을 사용하여 마이크론 바이 미크론 수준에서 웨이퍼 및 전기 특성의 지형을 측정합니다. 이 제품은 고속 레이저 주사 현미경을 장착하여 웨이퍼 (wafer) 지형을 정확하고 실시간 측정할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 자동 초점 (autofocus) 을 통해 현미경을 조정하여 웨이퍼 (wafer) 의 각 부분에 대한 올바른 초점을 자동으로 결정하므로 측정 변동 (measurement variability) 이 제거됩니다. 이렇게 하면 웨이퍼의 각 부분에 대해 최고 품질을 측정할 수 있습니다. 이 장치는 또한 다양한 광학 분광사진법 (optical spectrophotometric) 기술을 사용하여 각 웨이퍼의 전기 특성을 측정합니다. 그것 은 "웨이퍼 '표면 에서 방출되는 빛 과 그 빛 의 흡수 와 반사 를 정확 하게 측정 할 수 있다. 각 웨이퍼 (wafer) 의 전기 특성을 실시간으로 분석 할 수있는 광범위한 스펙트럼 측정이 필요합니다. TENCOR AIT II는 고속 레이저 머신, 고 처리량 카메라 및 프로그래밍 가능한 모션 컨트롤러로 구성됩니다. 이 조합은 매번 정확하고 일관된 결과를 달성하는 데 도움이됩니다. 또한 사용자 친화적인 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 간편한 작업을 수행할 수 있도록 설계되었으며, 사용자가 빠르고 쉽게 테스트를 설정하고 실행할 수 있습니다. 또한, AIT II에는 열 추적 기능 (thermal tracking feature) 이 장착되어 테스트 중 온도 변화를 자동으로 보정할 수 있으며, 정확도를 더욱 향상시킵니다. 또한 다양한 보조 도구 (Auxiliary Tools) 를 통해 사용자가 테스트를 설정하고 상세 분석 (Details Analysis) 에 필요한 데이터를 수집할 수 있습니다. 여기에는 자동 웨이퍼 정렬 도구, 웨이퍼 매핑 프로그램, 문제 해결을 위한 결함 데이터베이스 등이 포함됩니다. 전반적으로 KLA/TENCOR AIT II는 웨이퍼의 특성을 빠르고 정확하게 측정해야 할 반도체 제조업체에 이상적인 선택입니다. 고도로 발전된 이 자산은 초정밀 이미징 (ultra-precise imaging) 과 분광 광도법 (spectrophotometry) 기술을 결합하여 각 웨이퍼와 모든 웨이퍼가 정확하게 특성화되었는지 확인합니다. 또한 편리한 조정 기능과 다양한 지원 도구를 통해 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 와 도량형 (metrology) 을 보다 쉽고 효율적으로 수행할 수 있습니다.