판매용 중고 KLA / TENCOR AIT II #293585798

KLA/TENCOR AIT II는 반도체 IC 제조업체를위한 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 주요 전기, 광학 및 기하학적 장치 매개변수 (electrical, optical, geometric device parameters) 의 특성화에 대한 높은 정밀도 측정을 제공하여 개발 및 제작 프로세스를 최적화합니다. KLA AIT II는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 다양한 플랫폼을 제공합니다. 통합 도량형 플랫폼은 특허를 획득한 광학 기술 (Optical Technologies) 을 사용하여 프로파일 (Profile) 및 이미지 측정 (Image Metrics) 뿐만 아니라 다양한 기능 크기의 정확하고 반복 가능한 측정을 얻습니다. 이 플랫폼은 빠른 프로세스 최적화를 지원하기 위해 상호연결 (Interconnect) 과 접촉 (Contact) 의 선폭, 공간 및 높이 측정, 다이 (Die) 맵 등의 중요한 기능 정보를 수집합니다. 이 장치는 또한 프로파일 및 이미지 데이터를 3 차원으로 분석하여 복잡한 장치 구조에 대한 포괄적인 이해를 가능하게합니다 (영문). 이 기계의 고유 한 전기 테스트 도구 (Electrical Test Tool) 는 고주파, 디지털, 아날로그 집적 회로, 다양한 분야를 측정하고 유연한 고속 테스트 기능을 제공합니다. 이 자산은 또한 전기 지연 라인 테스터 (electrical delay line tester) 에서 벡터 네트워크 분석기 (vector network analyzer) 에 이르기까지 다양한 특성 기기에 대한 인터페이스를 제공합니다. TENCOR AIT II는 또한 검사와 조립을위한 완전한 통합 도량형을 제공하며, 기판, 패키지 및 보드 측정, 검사 및 특성화를위한 다양한 광학을 제공합니다. 필름 두께와 미세 결함을 분석하고 미세 결합 구조를 검사하는 데 필요한 매우 정밀한 3 차원 측정 기능을 제공합니다 (영문). 이 모델은 또한 측정의 효율적인 수집, 저장, 검색 및 보고를 위한 포괄적인 데이터 관리 솔루션을 제공합니다. 데이터베이스는 여러 가지 테스트 전략을 지원하고, 비즈니스 인텔리전스 향상을 위해 보고서를 자동으로 생성할 수 있습니다. AIT II 는 무중단 (non-destructive) 후속 웨이퍼 테스트를 위한 강력한 솔루션으로, 첨단 기술과 통합 데이터베이스 솔루션을 갖춘 고도의 정밀 측정 기능을 제공하여 오늘날의 반도체 (semiconductor) 제조업체의 요구에 적합한 솔루션입니다.