판매용 중고 KLA / TENCOR AIT Fusion XUV #9250962

KLA/TENCOR AIT Fusion XUV는 효율성을 극대화하면서 정확하고 정확한 결과를 제공하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 이 시스템에는 Metrology SEM (Scanning Electron Microscope) 과 Wafer Inspection Tool의 두 가지 필수 도구가 결합되어 있습니다. Metrology SEM은 초고해상도 이미징 및 비파괴적 하위 표면 테스트 기능을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 웨이퍼 표면의 자세한 마이크로 분석 및 도량형 측정을 수행 할 수 있습니다. 웨이퍼 검사 도구 (Wafer Inspection Tool) 는 X- 선 산란 기술을 사용하여 반도체 웨이퍼 표면의 빠르고 민감한 측정을 제공합니다. 또한, Fusion XUV에는 다양한 맞춤형 비품과 스테이지 모션이 장착 될 수 있습니다. Fusion XUV에는 이상적인 웨이퍼 테스트 솔루션으로 사용되는 수많은 기능이 있습니다. 정확하고 안정적인 결과를 제공하는 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 뿐만 아니라, 정확한 측정 및 분석을 용이하게 하는 고급 알고리즘을 제공합니다. 또한, 신뢰할 수있는 교정은 다양한 웨이퍼 유형을 테스트 할 때에도 정확한 결과를 제공합니다. 전반적으로 KLA AIT Fusion XUV는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 강력하고 안정적인 솔루션을 제공합니다. 고급 이미징 도구 (advanced imaging tools) 와 도량형 도구 (metrology tools) 를 조합하여 세부 분석 및 정확한 측정을 위한 탁월한 기능을 제공합니다. 또한, 사용자 친화적이며, 매우 복잡한 웨이퍼 표면을 처리 할 때에도 신뢰할 수있는 결과를 제공합니다. 퓨전 XUV (Fusion XUV) 는 다른 테스트 솔루션에 비해 처리 시간 (turnaround time) 이 뛰어나 빠른 속도의 산업과 연구실에도 적합합니다.