판매용 중고 KLA / TENCOR AIT 1 #293824441

ID: 293824441
빈티지: 2005
Defect inspection system 2005 vintage.
KLA/TENCOR AIT 1은 장치 제조를 효율적으로 자동화 및 모니터링하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 생산 테스트, 항복 및 프로세스 제어를 위한 동급 최고의 자동화 기능을 제공합니다. KLA AIT 1 장치는 검사 스테이션, 로드 스테이지, 턴 테이블 및 스캐닝 빔 오버 헤드로 구성됩니다. 로드 스테이지 (Load Stage) 를 사용하면 웨이퍼를 로드하고 언로드할 수 있으며, 회전 테이블 (Turn Table) 을 사용하면 웨이퍼를 정확하게 배치하여 테스트와 도량형을 수행할 수 있습니다. 스캐닝 빔 오버헤드 (Scanning Beam Overhead) 는 전체 웨이퍼 표면의 고해상도 이미징을 제공하며, 고급 디지털 신호 처리 알고리즘을 활용하여 미세한 세부 사항을 캡처하고, 신속하게 결함을 감지하고, 식별합니다. TENCOR AIT 1은 몇 가지 주요 이점을 제공합니다. 첫째, wafer level 과 device level 에서 빠르고, 쉽고, 정확한 테스트 및 도량형을 수행할 수 있습니다. 둘째, 광범위한 매개변수 (parameter) 와 결함 유형을 측정하여 매우 다재다능하게 만들 수 있습니다. 셋째, 고도로 자동화된 설계로 인해 생산의 효율성을 높이고 비용을 절감할 수 있습니다. AIT 1은 웨이퍼 (wafer) 및 장치 검사 외에도 프로세스 제어를 위한 다양한 기능을 제공합니다. 여기에는 테스트 프로그램의 자동 정렬, 고급 이미징 알고리즘, 정확한 프로세스 제어를 위한 3D 측정 등이 포함됩니다. 또한 하위 픽셀 해상도 및 결함 추세에서 패턴 매칭 (pattern match) 을 활성화하여 프로세스 이상을 해소할 수 있습니다. 전반적으로, KLA/TENCOR AIT 1은 최적의 생산 결과를 위해 능률적인 자동화, 향상된 정확성 및 포괄적 인 프로세스 제어를 제공하는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계입니다. 즉, 성능을 높이고 비용을 절감하려는 기업에게 이상적인 선택입니다.
아직 리뷰가 없습니다