판매용 중고 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #9192129

KLA/TENCOR 7700 Surfscan은 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 반도체 집적 회로 (IC), 옵토 전자 장치, 반도체 장치 생산에 사용되는 웨이퍼를 정확하고 정확하게 측정 할 수 있습니다. KLA 7700 Surfscan은 산란 측량 (scatterometry), 타원법 (ellipsometry) 및 표면 거칠기 분석 (surface roughness analysis) 과 같은 고급 이미징 기술을 통합하여 마이크로 일렉트로닉스 산업의 제조 프로세스에 대한 상세하고 안정적인 성능 정보를 제공합니다. 모듈식 플랫폼을 기반으로 구축 된 TENCOR 7700 Surfscan은 연구/개발/생산 분야에서 애플리케이션을 위해 설계된 다기능 장치입니다. 통합 자동 단계 (Integrated Automatic Stage) 는 평면 웨이퍼 (Flat and Non-Flat Wafer) 측정과 비패트 웨이퍼 (Non-Flat Wafer) 측정 모두에 대한 전례 없는 정확성과 정확도를 제공하여 사용자가 더 적은 시간에 안정적인 데이터를 얻을 수 있도록 합니다. 또한 내장된 다중 축 스캐닝 장치 (multi-axis scanning unit) 를 통해 대부분의 웨이퍼 서피스에서 데이터를 수집할 수 있습니다. 데이터 수집 (automated data acquisition) 메커니즘을 통해 문제를 효율적으로 해결할 수 있으므로 생산량이 증가합니다. 7700 Surfscan은 다른 제어 장치 (Control Unit) 및 데이터 수집 시스템과 상호 작용하여 생산성 및 효율성을 높이도록 설계되었습니다. 이 장치의 주요 특징은 다음과 같습니다. 이미지 분석을위한 고해상도 컬러 CCD 카메라 고속, 높은 정확도 다중 축 스캐닝 머신 Fully automated wafer alignment tool Computer-controlled wafer rotation stages Automated focused algorithms Fully automated data acquisition capability Automated data analysis tools KLA/TENCOR 7700 Surfscan 을 통해 사용자가 수율, 다만, 유연한 플랫폼을 통해 고객의 구체적인 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 모듈식 설계를 통해 특정 프로세스 검사 또는 제품 기능을 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. KLA 7700 Surfscan은 반도체 업계에서 매우 강력한 도구로서, 정확성, 정확성, 속도를 갖춘 안정적인 데이터를 제공합니다. 그 특유의 특징과 모듈식 디자인 (modular design) 은 마이크로 일렉트로닉스 산업의 연구와 생산을위한 테스트 및 도량형 애플리케이션을 위한 최고의 솔루션을 제공합니다.