판매용 중고 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #144898

KLA/TENCOR 7700 Surfscan은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 그것 은 "와퍼 '를 가로지르는 표면 의 질 을 모니터링 하기 위하여 반도체 산업 에 채택 되어" 칩' 들 의 표면 상태 를 최적 으로 보장 해 준다. KLA 7700 Surfscan은 현재 운영되는 가장 안정적인 웨이퍼 테스트 시스템 중 하나입니다. 서피스 두께, 프로파일, 텍스처, 광학 산란과 같은 매우 정확한 측정을 제공할 수 있습니다. 이 시스템을 사용하면 샘플 서피스의 프로파일, 불규칙성을 위한 서피스 컨투어 (surface contour), 서피스 샘플의 오염 물질 깊이 (depth of contaminant) 를 측정할 수 있습니다. TENCOR 7700 Surfscan은 다양한 측정을 수행 할 수있는 다기능 장치입니다. 프로파일 측정, 2D 측정, 1D 측정, 산란 측량 및 이미지 분석을 포함한 5 가지 테스트 모드가 장착되어 있습니다. 이러한 테스트 모드를 사용하여 7700 Surfscan은 다양한 반도체 장치에서 문제를 일으킬 수있는 나노 스케일 구조, 주름, 긁힘 및 기타 불규칙성을 측정 할 수 있습니다. KLA/TENCOR 7700 Surfscan은 또한 웨이퍼 질량 교정/두께, 테스트 웨이퍼 특정 매개변수, 시간 경과에 따른 개발 응용 프로그램 추세 모니터링 등 다양한 반도체 프로세스 모니터링 응용 프로그램을 수행하는 데 사용될 수 있습니다. 이 기계를 사용하면 샘플 서피스의 임계 치수 (CD), 평균 선 너비, 평균 접촉 및 기타 도량형 관련 정보와 같은 치수를 측정 할 수 있습니다. KLA 7700 Surfscan은 특정 사용자, 소프트웨어, 하드웨어 설치, 예방 유지 보수 등을 위한 교육을 제공하는 세계적 수준의 서비스 조직에서 지원합니다. 이 도구는 자동 감지 (Auto Detection) 및 자체 수정 조정 (Self-Correcting Tuning) 과 같은 고급 기능을 사용하여 빠른 스캐닝 기능을 제공하며 높은 정확성과 반복 가능성을 제공합니다. 결론적으로, TENCOR 7700 Surfscan은 반도체 응용 프로그램에 대한 매우 정확한 측정을 제공하기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산입니다. 사용자는 고급 (advanced) 기능을 통해 제조 공정에 문제를 일으킬 수 있는 매우 작은 치수를 감지하고 측정할 수 있습니다. 세계 최고 수준의 서비스 조직에서 지원하는 신뢰할 수 있는 '신뢰할 수 있는' 모델입니다.