판매용 중고 KLA / TENCOR 6200 Surfscan #293745466

KLA / TENCOR 6200 Surfscan
ID: 293745466
Particle counter.
KLA/TENCOR 6200은 제조업체가 반도체 웨이퍼 생산에서 생산량 및 품질을 향상시킬 수 있도록 개발 된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 자동화된 시스템은 웨이퍼 (Wafer) 표면의 결함을 신속하게 파악하고, 빠르고 정확한 웨이퍼 (Wafer) 검증 및 산출 평가를 지원하는 웨이퍼를 분석하여 작동합니다. 이 단위는 또한 웨이퍼 서피스의 형상 (geometry) 과 균일성 (unifority) 을 포함하여 다양한 매개변수에 대한 포괄적 인 도량형 측정 기능을 제공합니다. 이 기계는 고급 기술을 사용하여 최신 반도체 웨이퍼 기판 (예: 3D 기판 지형 및 저전압 Die-to-Die (D2D) 검사) 을 검사하는 기능을 향상시킵니다. 또한 강력한 처리량, 감지 효율성, 빠른 데이터 분석 속도를 제공하는 강력한 CamOpen 아키텍처를 갖추고 있습니다. 직관적이지만 유연한 사용자 인터페이스를 제공하여 구성 및 작동이 용이합니다. KLA 6200은 고해상도 이미징, 정확한 3D 스캔 등 완전히 통합된 도구 아키텍처를 통해 웨이퍼의 물리적/전기적 특성을 모두 측정합니다. 광학 시스템은 에지 치핑, 표면 거칠기, 외국 입자 오염 물질, 라인 너비, 라인 에지 거칠기, 임계 크기, 다이 투 다이 오버랩 등의 결함을 감지 할 수 있습니다. 자산은 또한 다이 투 다이 피치, 엔드 오브 라인 그라디언트, 기판 평판 및 뒷면 등록을 측정하고 분석 할 수 있습니다. 정밀하고 상세한 통계를 제공하는 정교한 알고리즘 (algorithm) 과 소프트웨어 (software) 에 의해 구동되며, 상세한 이미지를 제공하여 결함을 명확하고 명확히 파악합니다. 또한, 이 모델은 기존의 제조 데이터 관리, 분석, 검토 시스템에 쉽게 통합되어 문제 해결 속도를 높일 수 있습니다. 고객은 다양한 옵션 (예: 장비 사용자 정의, 각 특정 제조 공정의 요구 사항 충족) 을 통해 혜택을 누릴 수 있습니다. 확장 가능한 시스템 업그레이드 (예: 프로그래밍 가능한 하드웨어 카드, 소프트웨어 패키지) 를 제공하여 유연성을 높이고 성능을 향상시킵니다. TENCOR 6200 플랫폼은 포스트 프로세싱, 분석, 보고 실험을 완벽하게 제어하여 최고의 정확성과 정확도를 보장합니다. 전반적으로, 6200은 반도체 웨이퍼의 검사, 테스트 및 도량형을위한 고급 기능을 제공하는 강력한 장치입니다. 경제적이고 안정적인 기술로 웨이퍼 (wafer) 자격 및 수익률 평가에서 높은 성능을 보장하며, 생산량 극대화를 목표로 하는 제조업체에 적합합니다.
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