판매용 중고 KLA / TENCOR 5300 #9197519

KLA/TENCOR 5300은 웨이퍼 (wafer) 및 장치 매개변수의 정확한 측정을 위해 설계된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 최첨단 시스템은 웨이퍼의 필름과 구조에서 결함을 식별하고 구성, 필름 두께, 임계 치수, 흡수 속도 등의 매개변수에서 다이-투-다이 (die-to-die) 변형을 결정합니다. 이 장치는 탁월한 속도와 정확도로 작동하며, 연산자 개입을 최소화하면서 처리량을 극대화합니다. PLC (Programmable Logic Controller) 와 같은 최첨단 하드웨어를 사용하여 Probe 로딩에 대한 결정적 제어, 기능 인식 보고서, 멀티태스킹 환경 등을 제공하여 효율성을 극대화합니다. 고유한 디지털 CCD 이미징 기술은 이미지를 정확하게 캡처하고 저장하는 데 사용되며, 강력한 디지털 신호 프로세서 (digital signal processor) 는 이미지 대비를 향상시켜 빠르고 정확한 측정이 가능합니다. KLA 5300 은 기존 장비에 빠르고 쉽게 통합할 수 있는 사용자 친화적인 시스템입니다. 모듈식 소프트웨어 (Modular software) 를 사용하면 테스트의 설치, 실행에 도움이 되는 다양한 기능에 액세스할 수 있습니다. 이 도구는 또한 풍부한 온보드 메모리 (Onboard Memory) 를 갖추고 있어 테스트 데이터의 저장 및 상세 분석이 가능합니다. 자산의 하드웨어와 소프트웨어는 높은 성능과 정확성을 보장하도록 설계되었습니다. SmartSensors® 기술은 다이 투 다이 주문의 표면 변형을 정확하고 정확하게 감지하는 데 사용됩니다. 이 모델은 최대 200mm 크기를 포함하여 다양한 웨이퍼 크기를 수용 할 수 있습니다. 터치 감지 컨트롤을 사용하면 작동이 쉬워집니다. 각 테스트마다, 장비는 실시간 출력을 제공하며, 특정 테스트 (특정 테스트) 를 수행하도록 사용자 정의할 수 있습니다. TENCOR 5300 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 시스템 (metrology system) 은 거의 모든 테스트 환경에서 정확하고 안정적인 결과를 제공하는 강력한 장비입니다. 높은 성능, 낮은 TCO, 사용이 간편한 제어 인터페이스를 갖춘 5300 은 업계 최고의 Wafer 테스트입니다.