판매용 중고 KLA / TENCOR 5200XP #9250951

KLA/TENCOR 5200XP는 반도체 산업의 요구를 충족시키기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 단일 웨이퍼 (wafer) 에 대해 다양한 테스트와 프로세스를 수행할 수 있습니다. 혁신적인 기술을 활용하여 와퍼 (wafer) 수준에서 테스트의 정확성, 해상도, 처리량을 향상시킵니다. KLA 5200XP 장치에는 다양한 기능이 있으며, 특히 웨이퍼 테스트 및 도량형에 유용합니다. 2 개의 고속 스캐닝 헤드가 있어 웨이퍼를 빠르게 검사하고 특성화할 수 있습니다. 또한, 고해상도 비전 머신 (vision machine) 으로 인해 매우 정확하고 반복 가능한 측정 정확도를 갖습니다. 이 도구에는 또한 고성능 컴퓨팅 프로세서 (작동 속도의 2배 이상) 가 있습니다. TENCOR 5200 XP는 정확하고 정확한 측정 기능 외에도 자동화 시스템에 쉽게 통합 할 수 있습니다. 이 자산은 로봇 암과 픽앤 플레이스 (pick-and-place) 메커니즘을 포함한 외부 장치에 연결하고 제어할 수 있습니다. 이 통합 과정을 통해, 정확성을 희생하지 않고 웨이퍼 특성화 시간을 늘릴 수 있습니다. 이 모델의 경우, 운영자의 개입 없이 자동으로 테스트가 수행될 수도 있습니다. 5200XP는 또한 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형을위한 강력한 도구로 다양한 고급 기능을 제공합니다. 예를 들어, 고급 광학 장비 (optical equipment) 를 사용하여 매우 작은 결함과 입자를 감지 할 수 있습니다. 이 시스템에는 자동화 기능도 있어 스캔 속도 (scan speed) 와 해상도 (resolution) 와 같은 매개변수를 즉석에서 조정할 수 있습니다. TENCOR 5200XP는 매우 효율적이고 강력한 웨이퍼 테스트 장치입니다. 통합능력과 결합된 정확성과 정확도가 높아 도량형 (Metrology) 요구 사항에 대한 다용도 (Versitile) 솔루션을 찾는 사람들에게 이상적인 선택이다. 이 기계는 단일 웨이퍼 (wafer) 에 대해 광범위한 테스트와 프로세스를 수행할 수 있으므로 테스트 (test) 를 빠르고 정확하게 수행할 수 있습니다. 또한, 고급 기능은 향상된 측정 해상도, 향상된 처리량을 제공하여 비용을 절감하고 전반적인 효율성을 향상시킵니다.