판매용 중고 KLA / TENCOR 2915 #9168923

KLA/TENCOR 2915는 고성능 반도체 장치 생산을 위해 설계된 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 업계에서 가장 발전된 사진 촬영 장비에 대한 완벽한 디지털 테스트 및 도량형 (metrology) 기능을 제공합니다. 이 시스템은 완전 디지털, 자동화, 화이트 라이트 스캐닝 도량형 플랫폼으로, 반도체 웨이퍼에서 작은 기능을 매우 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 장치는 고급 광학 영상 기계를 사용하여 나노 미터 정확도로 소규모 기능을 정확하게 측정합니다. 라인 너비, 임계 치수 (CD), 모서리 편차, 웨이퍼 표면의 편평 등 최대 10,000 웨이퍼 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 이 도구에는 ADC (아날로그-디지털 변환기) 와 도량형 모듈의 두 모듈이 포함됩니다. ADC 모듈은 아날로그 정보를 디지털 데이터로 변환합니다. 도량형 모듈은 웨이퍼 표면의 이미지를 획득하여 정확성을 분석합니다. 이 자산은 고속 데이터 수집 기능을 제공하며, Wafer 의 기능을 자동으로 감지하고 식별할 수 있습니다. 이 모델은 탁월한 데이터 관리 툴과 사용자에게 친숙한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공하는 신뢰할 수 있는 소프트웨어 플랫폼을 기반으로 합니다. 또한 데이터를 분석하고 이해하기 쉬운 형식으로 제시하도록 설계된 다양한 소프트웨어 모듈 (Software Module) 이 있습니다. 이 장비는 SEMI 및 ISO 표준과 같은 사용 가능한 업계 표준을 최대한 활용하도록 설계되었습니다. 업계에서 가장 발전된 반도체 제작 툴 및 장비와 완벽하게 호환됩니다. 또한 간편한 업그레이드 경로 (upgrade path) 를 통해 필요에 따라 시스템 기능을 손쉽게 확장할 수 있습니다. KLA 2915는 첨단 업계 지원을 위한 다양한 기능과 이점을 제공합니다. 즉, 사용자는 매우 정확한 데이터를 빠르고 효율적으로 수집하고 분석할 수 있습니다. 간편한 운영 및 최소한의 유지 관리를 위해 설계되었으며, 고품질 (High-Quality) 테스트 및 도량형 결과를 제공합니다. 또한, 탁월한 소프트웨어 플랫폼은 업계의 다른 장치와의 호환성을 보장합니다. TENCOR 2915 장치는 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 및 도량형 (Metrology) 요구 사항에 맞게 완벽하고 신뢰성이 높은 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. 고급 옵티컬 이미징 (Optical Imaging), 고속 데이터 획득 (High-Speed Data Acquirition) 및 직관적인 소프트웨어를 통해 모든 반도체 생산 라인에 이상적인 선택이 가능합니다.