판매용 중고 KEYENCE LT-8110, LT-V201, LT-8105 #14087

ID: 14087
빈티지: 2001
Long working distance confocal 670nm laser non-contact surface profiler with: 28mm working distance +-1.0mm measuring range 7.0um spot diameter 0.2u resolution LT-V201 camera control LT-8105 controller Camera is set on the right side of the sensor Measures reflective and transparent films 2001 vintage.
KEYENCE LT-8110, LT-V201 및 LT-8105는 반도체 웨이퍼를 효율적으로 검사하고 분석하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 이러한 시스템의 고급 (advanced) 기술을 통해 다양한 형식의 고해상도, 신속한 웨이퍼 스캐닝이 가능합니다. KEYENCE LT-8110은 광학 빔 프로파일로미터 (optical beam profilometer) 로, 몇 분 안에 반도체 웨이퍼의 자세한 2 차원 지형 이미지를 제공 할 수 있습니다. 넓은 시야각 (250x250mm) 과 최대 5äm의 미세 픽셀 해상도로, 정확하고 정확한 결과를 제공합니다. 첨단 공기스캐닝 (AirScanning) 장비는 수치 (Numerical) 와 이미지 (Image) 기법을 조합하여 웨이퍼 (Wafer) 에 대한 관심 영역을 정확히 파악하여 스캐닝 성능을 향상시킵니다. 또한 LT-8110에는 여러 측정에서 일관된 정확성을 보장하는 자동 교정 기능이 있습니다. KEYENCE LT-V201은 반도체 구조의 동적 특성을 측정하도록 설계된 바이브로미터 시스템입니다. 스캐닝 레이저 진동 (scanning laser vibrometry) 을 사용하여 웨이퍼 및 기타 컴포넌트의 진동 특성 변화를 정확하게 감지합니다. 이 단위는 미세한 공명 패턴 (microscopic resonance pattern) 을 측정하여 회로 기판에 사용되는 재료의 무결성 (integrity) 을 평가하는 등 다양한 응용 분야에 사용될 수 있습니다. KEYENCE LT-8105는 고급 웨이퍼 결함 검사 기계입니다. 이 제품은 고해상도, 고감도 카메라, 강력한 조명도구로 구성되어 있어 반도체 웨이퍼 (wafer) 의 결함에 대한 자세한 이미지를 제공합니다. 다양한 작동 모드가 있으며, 이미징 매개변수 (imaging parameter) 와 이미지 분석 (image analysis) 알고리즘을 구성하여 다양한 유형의 결함을 캡처할 수 있습니다. 전반적으로 KEYENCE LT-8110, LT-V201 및 LT-8105는 반도체 웨이퍼를 효율적으로 검사하고 분석하도록 설계된 고급 시스템입니다. 세 시스템 모두 각 전문 분야에 최신 기술을 활용하므로, 정확하고 정확한 측정 (experty and accurate measurements) 을 제공합니다. LT-8110, LT-V201, LT-8105 는 상호 보완을 위해 설계된 시스템 제품군을 제공함으로써, 웨이퍼 테스트 및 도량형을 위한 가장 포괄적인 솔루션을 제공합니다.
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