판매용 중고 KEYENCE LA-2010 #9253571

KEYENCE LA-2010은 반도체 제조 공정에 사용하도록 설계된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 첨단 기술을 활용하여 실리콘, 갈륨 비소 (gallium arsenide), 기타 반도체 (semiconductor) 와 같은 다양한 웨이퍼의 미세한 특성을 분석합니다. 이 시스템에는 나노 스케일 측정, 3D 이미징, 결함 분석, 서피스 거친 테스트 등 다양한 측정 및 분석 기능이 있습니다. LA-2010에는 2 개의 통합 광학 시스템이 장착되어 있으며, 하나는 SEM (scanning electron microscope) 이고 다른 하나는 간섭계 현미경으로 구성되어 있으므로 이미지를 모두 분석하고 다양한 방식으로 웨이퍼를 분석 할 수 있습니다. 여기 에는 중심적 인 전자 광선 이 "웨이퍼 '표면 을 검사 하여 최대 15" 나노미터' 의 해상도 를 가진 "이미지 '를 만드는 SEM 영상 을 사용 하는 것 이 포함 된다. 간섭 현미경으로, KEYENCE LA-2010은 나노 미터 범위의 정확도로 웨이퍼의 표면 지형을 측정 할 수 있습니다. 이 장치의 3 차원 이미징 기능을 통해 웨이퍼의 결함을 정확하게 식별 할 수 있습니다. LA-2010 은 또한 결함 (defect) 및 표면 거칠기 분석 (surface roughness analysis) 과 같은 광범위한 분석 기능과 레이어 결함을 감지하기위한 이미지 분할을 제공합니다. 기계는 패턴 인식 기술 (pattern recognition technology) 을 사용하여 웨이퍼 표면의 패턴을 정확하게 식별 할 수 있습니다. 이것은 나노 스케일 층 및 구조를 평가 할 때 특히 유익합니다. 또한 KEYENCE LA-2010 (KEYENCE LA-2010) 은 웨이퍼의 저항성 및 유전성을 측정하고 표면의 고정밀 디지털 고도 맵을 생성 할 수 있습니다. 라-2010 (LA-2010) 은 반도체 제조업체가 최고의 와퍼 품질을 보장할 수 있는 안정적이고 강력한 도구입니다. 자산의 광범위한 기능/분석 기능을 통해 반도체 웨이퍼 (wafer) 를 가장 정확하게 검사하고 테스트할 수 있습니다. KEYENCE LA-2010 (KEYENCE LA-2010) 을 사용하여 제조업체는 결함을 빠르고 효과적으로 파악하고, 웨이퍼 특성을 분석하며, 웨이퍼가 품질 표준 및 고객 요구 사항을 충족하는지 확인할 수 있습니다.