판매용 중고 JORDAN VALLEY JVX 7300 #9383216

ID: 9383216
Film thickness measurement system, 12" Optics non functional.
JORDAN VALLEY JVX 7300은 연구 및 산업 응용 분야에 적합한 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 의 테스트, 분석을 위한 다양한 옵션을 제공하는 높은 수준의 정확성과 안정성을 제공합니다. 이 시스템은 베이스 유닛 (Base Unit) 으로 구성되며, 스캐닝 및 테스트 기능, 고해상도 이미징을위한 광학 현미경 (Optical Microscope) 을 모두 제공합니다. 스캐닝은 한 쌍의 고정밀 플라이스캔 (flyscan) 단계에 의해 제공되며, 이는 전체 웨이퍼 표면을 빠르고 정확하게 스캔합니다. 이 장치에는 전동식 XY 스테이지 (Motorized XY Stage) 가 있으며, 이는 와퍼로 스캐닝 헤드를 빠르고 정확하게 정렬 할 수 있습니다. JVX 7300 은 스캐닝/테스트 기능 외에도 다양한 도량형 툴과 특성을 갖추고 있습니다. 여기에는 웨이퍼의 물리적 특성을 캡처하고 분석 할 수있는 고해상도 CCD (고해상도 CCD) 카메라가 포함됩니다. 또한 광원 (Light Source) 도 포함되어 있습니다. 광원은 다양한 파장을 사용하여 기존 웨이퍼 서피스 (Wafer Surface) 와 소프트웨어 패키지 (Software Package) 를 이미지화하며, 광범위한 통계 및 매개변수를 측정, 분석 및 비교하는 데 사용할 수 있습니다. 이 기계의 하드웨어 구성요소는 고도의 고급 소프트웨어 (advanced software suite) 로 보완되며, 다양한 도구와 기능을 제공하여 장비의 기능을 더욱 향상시킵니다. 여기에는 자동 데이터 로거 (Automatic Data Logger) 가 포함되며, 사용자는 해당 도구 설정을 저장, 모니터링, 조정할 수 있으며 결과에 대한 자세한 보고서를 제공할 수 있습니다. 이 제품군은 또한 생성된 이미지를 보고 비교하는 기능 (영문) 을 포함하며, 기술자에게 추가 분석 계층을 제공합니다. 마지막으로 JORDAN VALLEY JVX 7300은 USB 및 이더넷 포트를 포함한 다양한 연결 옵션도 제공합니다. 이를 통해 자산을 원격으로 액세스할 수 있으며, 데이터 공유와 협업 네트워크 (Collaborative Network) 생성을 허용합니다. 요약하면, JVX 7300은 정확하고 다양한 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델을 제공합니다. 광범위한 하드웨어/소프트웨어 구성요소를 갖춘 이 장비는 다양한 유형의 웨이퍼 (wafer) 를 분석, 비교하는 포괄적이고 효율적인 플랫폼을 제공합니다.
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