판매용 중고 JMAR Mirage S2610-01 #128071

ID: 128071
Automatic wafer circuit inspection measurement system, 3-axis Objectives: 10x and 50x DATACON Pentium 2 Tower computer 14" VIEWSONIC 15GS monitor Fiber optic light power supply VideoCMM II Software versions 2.01 on CD Screw-in pegs for lifting unit Passive Vibration Isolation Illumination Sources: 3 Channel digital light control Transmitted, incident and oblique lighting Resolution: 1, .5. or .1µ Repeatability: <1µ Accuracy: 3µ Field-of-view Resolution and Accuracy (using 100x objective): Resolution: .05µ Accuracy: .02µ or better.
JMAR Mirage S2610-01 (JMAR Mirage S2610-01) 은 최신 반도체 제조 공정에서 칩 제조업체의 요구를 충족시키기 위해 설계된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 장치 기능의 데이터 (data on device) 와 웨이퍼 (wafer) 의 성능을 수집하는 데 사용되므로 칩 제조업체가 완성된 제품의 품질을 정확하게 평가할 수 있습니다. 이 장치에는 정확하고 안정적인 데이터를 제공하기 위해 다양한 기능이 있습니다. 고급 이미지 분석 도구는 0.3um에서 50um 사이의 미세한 기능을 정확하게 측정합니다. 이 기계에는 서브 미크론 (sub-micron) 범위의 정확도로 더 정확한 피쳐를 측정하는 데 사용할 수있는 비전 (vision) 도구 (옵션) 가 포함되어 있습니다. 이 자산은 또한 고속 스캔 기능을 제공하며, 최고 2,500 회 (초) 의 스캔 속도를 제공하여 테스트 프로세스 속도를 높입니다. Mirage S2610-01은 데이터 수집 및 분석 기능 외에도 다양한 품질 보증 (Quality Assurance) 시스템을 갖추고 있습니다. 포함 된 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 모델을 사용하면 샘플을 빠르고 일관되게 매핑할 수 있으며, 자동 결함 감지 (automated defect detection) 장비는 품질 결과를 보장합니다. 시스템은 추적 가능성 관리 단위 (Traceability Management Unit) 를 사용하여 실시간 샘플 모집단을 추적하는 데에도 사용할 수 있습니다. 또한 S2610-01에는 불필요한 폐기물을 줄이는 데 도움이 되는 고급 통신 및 제어 기능이 있습니다. 이 기계는 다른 칩 구성 장비와 무선으로 데이터를 교환할 수 있으며, 포함된 작업 스케줄링 (Job Scheduling) 소프트웨어는 부드럽고 효율적인 작동을 지원합니다. 또한, 이 툴은 다양한 업계 표준 네트워크 시스템 및 애플리케이션과 상호 작용할 수 있습니다. JMAR 미라지 (JMAR Mirage) 는 전 세계 칩 제조 시설에 사용하도록 설계되었으며, 안정적인 테스트 및 도량형 결과를 위해 신뢰할 수있는 자산을 제공합니다. 이 모델은 다양한 클린 룸 (clean room) 환경에서 작동할 수 있으며, 모든 유형의 재료 (material) 와 가스 (gase) 에서 사용할 수 있습니다. JMAR Mirage S2610-01은 강력한 기능, 품질 보증 시스템, 고급 지원 시스템 (Advanced Support System) 의 조합으로, 반도체 웨이퍼의 품질을 보장하는 강력한 도구입니다.
아직 리뷰가 없습니다