판매용 중고 HOMMEL T2000 #9095342

HOMMEL T2000 Wafer Testing and Metrology Equipment는 고급 반도체 프로세스 제어 및 현장 수준 도량형을 위해 설계된 고성능 다기능 시스템입니다. '자동 웨이퍼 테스트 (Automatic Wafer Testing)' 및 '도량형 (Metrology)' 기능을 갖춘 이 장치는 프로세스 및 제품 일관성 문제를 파악하고 파악할 수 있는 매우 빠르고 정확한 측정값을 제공합니다. T2000은 고해상도 이미징, 자동화된 결함 감지, 온웨퍼 결함 특성 등 고급 웨이퍼 이미징 기능을 제공합니다. 이 기계는 또한 IV, C-V, 특수 풀 칩 프로세스 모니터링, 프로세스 제어 테스트 등 다양한 완전 통합 웨이퍼 테스트 모듈 옵션을 제공합니다. 이 도구는 표준 (standard), 고급 (advanced), 사용자 정의 (customized) 크기의 모든 유형의 웨이퍼를 처리하도록 설계되었습니다. 동일한 테스트 헤드 내에서 웨이퍼 (wafer) 크기를 쉽게 변경할 수 있는 기능으로, 자산은 서로 다른 크기를 빠르고 정확하게 전환할 수 있습니다. 이를 통해 다양한 크기의 여러 웨이퍼를 동시에 테스트할 수 있습니다. HOMMEL T2000에는 사용자 지정 가능한 소프트웨어 도구 및 웨이퍼 테스트 레시피 (wafer test recipe) 가 포함되어 있어 특정 응용 프로그램에 대한 테스트 매개변수를 빠르고 정확하게 설정할 수 있습니다. 또한, 이 모델은 여러 테스트 헤드 (test head) 와 여러 웨이퍼 로더 (wafer loader) 를 활용하여 모든 유형의 테스트 웨이퍼를 신속하게 처리합니다. T2000은 종합적인 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology) 기능 외에도 뛰어난 웨이퍼 추적 및 추적 기능을 제공합니다. 사용자 정의 pass/fail 테스트를 사용하여 wafer geometry, patterning, topography, other potential problem 등 사양을 충족하지 못하는 wafer 또는 lot을 빠르고 정확하게 식별할 수 있습니다. 전체적으로 HOMMEL T2000 Wafer Testing and Metrology Equipment는 성능, 정확성, 유연성의 강력한 조합을 제공하여 연구 및 산업 응용 프로그램 모두에 이상적인 선택입니다. 이 시스템의 강력한 기술들을 통해 사용자는 프로세스/제품 문제를 신속하고 정확하게 감지하고 파악할 수 있으며, 전체 자동화 (automation) 는 추적 능력, 고해상도 이미징 제어 (Image Resolution Imaging Control) 와 함께 T2000을 고급 반도체 프로세스 제어를 위한 필수 요소로 만들 수 있습니다.