판매용 중고 HITACHI JG-0148 #9377467

HITACHI JG-0148은 반도체 산업에 사용되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 제품은 강력한 이미지 분석 시스템 (image analysis system) 을 갖추고 있으며, 새로운 프로세스 기술의 개발을 위해 매우 정확하고 정밀하게 웨이퍼를 측정하도록 설계되었습니다. 이 장치는 최대 30 배율 현미경 및 고급 조명 기술을 사용하여 안정적인 표면 및 샘플 분석을 지원합니다. JG-0148 알고리즘은 웨이퍼 (wafer) 표면에서 다양한 유형의 입자와 개체를 자동으로 감지하고 식별 할 수 있습니다. 또한 사용자는 JIS, SOP 및 SEMI 표준을 준수하는 2D 스캔 측정을 수행할 수 있습니다. 이미지 분석 (image analysis) 소프트웨어의 고급 기능을 사용하면 웨이퍼의 치수와 프로파일을 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 도구에서 얻은 데이터는 온보드 CF 메모리와 USB 장치 및 CD (CD) 에서 저장 및 검색할 수 있습니다. 또한 외부 프린터 (external printer) 로 출력하여 사용자가 자산으로부터 떨어진 데이터를 분석할 수 있습니다. 또한 HITACHI JG-0148 모델에는 자극 제어, 정밀 추적, 페트리 접시 배치, 샘플 보호 등 다양한 기능이 있으며, 모두 정확성과 효율성을 향상시킵니다. 또한, 이 장비는 인체 공학적으로 설계된 LCD 모니터와 유연한 이미징 작업 (Imaging Operation) 을 통해 운영 환경의 요구를 충족할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 여러 웨이퍼 (wafer) 의 결함을 측정하고 통계를 수집하는 기능이 있으며, 이를 통해 프로세스 제어가 향상됩니다. 또한 새로운 프로세스 기술을 신속하게 개발할 수 있습니다. 최소 유지보수 및 시스템 수명을 늘리기 위해 JG-0148 은 안전한 차단 회로 (secure shut-off circuit), 스파크 저항 장치 (spark-resistance unit) 및 먼지 방지 메커니즘을 사용합니다. 이는 반도체 업계를 위한 장기간 지속되고 안정적인 측정 솔루션을 제공합니다. 전반적으로, HITACHI JG-0148은 웨이퍼 테스트 및 도량형의 높은 해상도와 정확도를 제공하는 고급 기계입니다. 사용자 편의성이 높으며, 강력한 기능과 도구를 제공하여 제품 개발 속도를 높일 수 있습니다 (영문). JG-0148 도구는 웨이퍼 (wafer) 표면에서 입자를 감지하고 식별하는 기능을 제공하여 생산 라인의 효율성을 높이고 안정적인 결과를 제공합니다.