판매용 중고 HEXAGON METROLOGY Global Vantage #9363428

HEXAGON METROLOGY Global Vantage는 대용량 반도체 산업을 위해 설계된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 최첨단 기술을 사용하여 웨이퍼와 기판 모두에서 결함을 정확하게 측정하고 감지합니다. 이 시스템은 종합적인 검사 기능을 갖추고 있으며, 2D 및 3D 기술을 모두 활용하여 다양한 잠재적 결함을 감지합니다. 글로벌 밴티지 (Global Vantage) 는 자동화된 광 검사 장치를 제공하여 반도체 및 메모리 웨이퍼를 효율적이고 정확하게 검사합니다. 이 제품은 긁힘, 외래 입자, 웨이퍼, 기판의 균열 등 다양한 종류의 결함을 식별하기 위한 내장형 (내장) 프로세스를 갖추고 있습니다. 이 기계는 또한 포괄적인 CCD 이미지 퓨전 (fusion) 기술을 통해 사용자가 각 웨이퍼의 전면 뷰 (frontal view) 와 측면 뷰 (side view) 를 결합하여 더 나은 분석을 할 수 있습니다. 이 도구는 또한 여러 가지 정교한 웨이퍼 도량형 솔루션을 제공합니다. 웨이퍼 서피스 매핑 에셋은 웨이퍼 (wafer) 또는 기판의 지형을 정확하게 측정합니다. 또한 SEM, FIB, AFM, nanoscopy 등 다양한 고급 검사 기술을 지원하므로 가장 까다로운 반도체 애플리케이션에서 미세한 결함을 신속하게 파악할 수 있습니다. 이 강력한 정밀 (precision) 모델은 최소 가동 중지 시간으로 작동하도록 설계되었으며, 다양한 장비 구성 옵션을 제공합니다. 이 시스템의 컴팩트한 설계와 간편한 통합을 통해 모든 반도체 생산 환경에 적합합니다. 또한 원격 액세스를 지원하는 공통 소프트웨어 인터페이스 (Common Software Interface with Remote Access) 를 통해 사용자는 모든 컴퓨터 스테이션에서 모든 하위 시스템에 액세스하고 구성할 수 있습니다. HEXAGON METROLOGY Global Vantage는 웨이퍼 및 기판의 결함을 감지하기위한 강력하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 정교한 도량형 솔루션과 자동화된 광학 검사 (Optical Inspection) 기능은 가장 까다로운 반도체 생산 환경에 탁월한 수준의 품질 보증을 제공합니다. 웨이퍼 표면 매핑 (wafer surface mapping), 결함 검사 (defect inspection) 또는 고급 도량형 솔루션에 사용되는 글로벌 밴티지 (Global Vantage) 는 대용량 반도체 산업에 적합합니다.