판매용 중고 HANRA HRI 580L #9200946

HANRA HRI 580L 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 반도체 업계에서 IC, 웨이퍼 및 구성 요소의 종합적인 분석 및 특성을 수행하는 데 사용됩니다. 고해상도 이미징 시스템, 다각도 산란 테스트 유닛 및 분광계 기반 도량형 장치를 갖추고 있습니다. 이미징 머신 (Imaging Machine) 은 특화된 디지털 현미경을 사용하여 동일한 웨이퍼 (wafer) 의 여러 이미지를 빠르게 연속하여 찍을 수 있습니다. 이를 통해 각 IC 및 각 컴포넌트의 구성과 정렬에 대한 자세한 분석을 수행할 수 있습니다. 이 도구는 또한 내장 격자 형성과 치수 측정을 통해 빠르고 정확한 결과를 제공합니다. 다중 각도 산란 테스트 단위를 사용하면 웨이퍼 (wafer) 또는 컴포넌트를 세 가지 각도로 자세히 분석 할 수 있습니다. 단위는 각 부품의 크기, 형태, 방향 등의 매개변수를 측정하여 전기적 (electrical) 및 물리적 (physical) 특성에 대한 정보를 제공합니다. 이렇게 하면 프로세스 매개변수 (process parameter) 를 최적화하고 각 디바이스의 품질을 보장할 수 있습니다. 분광계 기반 도량형 자산은 분광학 기술을 사용하여 웨이퍼 (wafer) 또는 컴포넌트의 화학, 전기 및 광학 특성을 측정합니다. 이 모델은 결함 테스트, 오염 물질 존재 확인, 전기 임피던스 분석 등 다양한 응용프로그램 (응용 프로그램) 에 사용될 수 있습니다. 이 장비를 사용하면 1 분 이내에 결과를 얻을 수 있으므로 운영 워크플로우를 보다 효율적으로 처리할 수 있습니다 (영문). HRI 580L 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 시스템 (metrology system) 은 IC 및 기타 컴포넌트의 특성화 및 최적화를 지원하는 강력한 구성 요소 조합을 제공합니다. 이미징 장치, 다각도 산란 테스트, 분광계 기반 도량형 머신 (Metrology Machine) 을 통해 각 부품에 대한 자세한 분석을 통해 품질 결과와 함께 성공적인 운영 실행을 보장하는 데 필요한 값을 제공합니다.