판매용 중고 HANDTMANN PBZ DL 5 #9043099

HANDTMANN PBZ DL 5는 IC와 웨이퍼에 대한 탁월한 분석 및 검사를 제공하는 높은 정밀 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 수율 손실을 유발하는 웨이퍼 수준 결함, 입자 오염 등의 테스트 및 특성을 위해 설계되었습니다. PBZ DL 5 는 여러 가지 중요한 기능을 통합하여 분석/검사 속도, 정확성을 향상시킵니다. 탄력성 1m로 웨이퍼 두께를 측정하기 위해 설정된 정밀 스케일 (scale) 을 포함합니다. 이 시스템에는 정밀 옵틱 모듈 (precision optics module) 과 인체 공학적 설계 (ergonomic design) 가 장착되어 있어 웨이퍼와 IC를 정확하고 빠르게 정렬할 수 있습니다. 서브 미크론 측면 해상도는 광학 개선과 고속 스캐닝 장치 (High Speed Scanning Unit) 의 혼합을 통해 달성됩니다. 또한 HANDTMANN PBZ DL 5에는 광범위한 결함 분석을 제공하는 다양한 분석 및 결함 특성 도구가 있습니다. 또한 입자 오염 및 웨이퍼 레벨 결함을위한 획기적인 결함 진단 기술도 갖추고 있습니다. 이 기술은 미세한 입자와 스루 홀 (through-hole) 결함 분석을 위해 스캔 이미지 패턴 (scan image pattern) 으로 인해 전기 고장을 감지하는 데 사용됩니다. 또한, 입자 검출 능력은 입자 오염원을 식별하는 데 도움이되는 입자의 크기, 위치, 수를 정확하게 측정 할 수 있습니다. PBZ DL 5 에는 AccuPatch 옵션이 있습니다. AccuPatch 옵션은 데이터 분석 기능을 제공하고 장애 진단 프로세스를 지원하는 강력한 데이터 획득 시스템입니다. 이를 통해 장애 진단 프로세스의 속도를 높이고 수익률 손실 문제를 방지할 수 있습니다. 그 외에도 HANDTMANN PBZ DL 5에는 파라 메트릭 테스트, 칩 테스트 및 스캐닝 전자 현미경 영상 (SEMI) 과 같은 다양한 도량형 도구가 있습니다. 이는 효율적이고 안정적인 평가를 통해 웨이퍼 (wafer) 와 IC (IC) 의 철저한 도량형을 제공하여 IC 및 웨이퍼를 완벽하게 분석 할 수 있습니다. 마지막으로, 고급 소프트웨어 패키지는 CAD/CAE/FEA/아날로그/RF 도구와 호환되며 개발 프로세스를 용이하게 합니다. 타사 소프트웨어의 통합으로 보다 포괄적인 데이터 분석이 가능합니다. 다양한 기능의 조합으로, PBZ DL 5는 웨이퍼 테스트와 도량형을위한 독특한 기능의 조합을 제공합니다.