중고 GOM (웨이퍼 테스트 및 계측) 판매용

유명 제조업체인 GOM (GOM) 은 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 장비를 제공하여 반도체 웨이퍼의 품질과 정확성을 보장하는 데 중요한 역할을합니다. 이러한 시스템은 웨이퍼의 다양한 표면 매개변수 (surface parameters) 와 특성을 측정하여 포괄적인 테스트 및 분석을 가능하게 합니다. GOM의 주요 제품 중 하나는 ATOS III Triple Scan 시스템으로, 고급 3D 스캔 기술을 사용하여 웨이퍼의 고해상도 표면 데이터를 캡처합니다. 이 시스템은 빠르고 정확한 측정값을 제공하여 웨이퍼 (Wafer) 제조 공정에서 품질 제어를 효율적으로 수행할 수 있습니다. 심층 평가를 위한 포괄적인 데이터 분석 기능도 제공합니다. GOM의 또 다른 주목할만한 시스템은 ATOS SO 4M으로, 반도체 웨이퍼를 위해 특별히 설계되었습니다. 이 시스템은 고해상도 스캐닝을 통합하고 상세한 측정 기능을 제공하여 필름 두께 (film thickness), 서피스 프로파일 (surface profile), 지형 (topography) 등의 중요한 기능을 평가할 수 있습니다. 안정적이고 정확한 테스트 결과를 보장하며, Wafer 품질과 생산성 향상에 기여합니다. GOM의 웨이퍼 테스트 및 도량형 장치에는 비접촉 측정 기술, 고속 데이터 획득, 자동화 기능 등 여러 가지 장점이 있습니다. 이 기계는 복잡한 형상으로 웨이퍼를 검사할 수 있으며, 많은 양의 데이터를 신속하게 처리할 수 있습니다. 또한, 추적 가능하고 반복 가능한 측정 결과를 제공하여 웨이퍼 특성을 정확하게 평가하고 생산 결함을 최소화합니다. 전체적으로 ATOS III Triple Scan 및 ATOS SO 4M과 같은 GOM의 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구는 종합적인 품질 제어 및 반도체 웨이퍼의 정확한 측정을 위해 고급적이고 안정적인 솔루션을 제공합니다.