판매용 중고 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413 #9159951

ID: 9159951
빈티지: 2013
Wafer thickness measurement system 2013 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413 웨이퍼 테스트 및 FSM의 도량형 장비는 도량형 및 프로세스 제어를 위해 설계된 완전 자동화 시스템입니다. 이 단위는 얇고 얇지 않은 샘플에서 고정밀 (high-precision) 측정이 가능하며, 웨이퍼의 품질 보증을 제공합니다. FSM FSM 413의 고급 옵틱 및 이미징 기술은 최고 4nm 해상도와 최대 800: 1의 SNR (Optical Signal-to-Noise Ratio) 을 제공하는 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 이 기계는 수 밀리 암프 (milliamps) 의 전류를 최대 1 암프 (amp) 까지 다양한 웨이퍼를 수용 할 수있는 광범위한 작동 전압 범위를 가지고 있습니다. 또한, 첨단 레이저 기술은 넓은 영역을 빠르고 정확하게 측정하기위한 넓은 빔 직경을 제공합니다. FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413은 단색 CCD 기능 어레이를 사용하여 웨이퍼 표면에서 다중 채널 측정을 수행합니다. 이를 통해 사용자는 웨이퍼 서피스의 자동화된 전기, 광학, 재료 특성을 정확하게 측정하고 모니터링할 수 있습니다. 이 측정 도구 (Measurement Tool) 에는 웨이퍼의 정확한 위치화를 위한 고정밀 기계적 단계와 게이지 반복성에 대한 피드백을 제공합니다. 자산의 가장 인상적인 기능 중 하나는 완전 자동화 된 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델입니다. 이 장비는 독점 자동 초점 추적 시스템 (auto-focus tracking system) 을 사용하여 매개변수를 정확하게 측정하기 위해 각 웨이퍼의 최적의 이미지 캡처를 보장합니다. 또한 다양한 측정값을 저장할 수 있는 대용량 메모리 (May Memory Capacity) 와 간단하고 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 를 제공하여 FSM 413을 쉽게 사용할 수 있습니다. 또한 FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413을 다양한 타사 하드웨어에 연결하여 기능 및 프로세스 제어를 확장할 수 있습니다. 따라서 장치를 기존 운영 라인과 워크플로에 쉽게 통합할 수 있습니다. 또한 Frontier는 정확하고 빠른 웨이퍼 테스트 결과를 제공하기 위해 FSM FSM 413 용 정교한 지원 소프트웨어를 개발했습니다. 전반적으로 FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413은 프로세스 제어 및 도량형 애플리케이션에 이상적인 솔루션입니다. 고급 옵틱 (Optic), 이미징 (Imaging), 자동화 (Automation) 의 조합으로 웨이퍼 (Wafer) 제작 및 수율 관리를 위한 강력한 도구입니다.
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