판매용 중고 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C #9248258

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C 웨이퍼 테스트 및 FSM의 도량형 장비 (FRONTIER SEMICONDUCTOR) 는 고속 자동 웨이퍼 도량형입니다. 이 시스템은 동력 6축 (Motorized 6 Axis) 단계를 사용하여 단위 내에서 웨이퍼를 정확하게 배치 할 수있는 원형 패턴으로 웨이퍼를 구동합니다. 이것 은 "웨이퍼 '에 있는 특징 들 을 정확 하게 측정 해 주며, 이것 은 기계 가 효율적 으로 그리고 기대 되는 정확도 로 수행 할 수 있게 해 준다. 이 도구에는 웨이퍼 (Wafer) 와 다이 (Die) 의 자동 로드 및 언로드가 가능한 독점 다이 첨부 (Die Attach) 기술이 장착되어 있습니다. 이렇게 하면 각 웨이퍼 (wafer) 를 테스트하는 프로세스가 매끄럽고 웨이퍼 공간 낭비가 줄어듭니다. 이 자산은 고급 시력 인식 (Advanced Vision Recognition) 과 웨이퍼 분석 (Analysis) 을 사용하여 오류 가능성을 최소화하면서 다이 (Die) 를 정확하게 읽어낼 수 있습니다. 이를 통해 웨이퍼에서 수행되는 테스트는 정확하고 일관성이 유지되므로 시간 (time) 과 비용 (cost) 을 모두 절약할 수 있습니다. 이 모델은 또한 웨이퍼 표면의 모양, 크기, 패턴을 측정하기위한 레이저 기반 도량형 기술을 이용합니다. 이를 통해 기존 방법에 비해 정확하고 정확한 측정이 가능합니다. 레이저 (laser) 기반 도량형 (metrology) 기술은 수동 방법보다 훨씬 빠른 웨이퍼 (wafer) 의 피쳐를 측정할 수 있으므로 처리량이 손상되지 않습니다. 마지막으로, 이 장비는 다양한 제품, 부품과 호환되며, 매우 다양한 도구입니다. 다양한 유형의 웨이퍼와 메모리, CPU, 인쇄 회로, 마이크로칩 등의 부품에 사용할 수 있습니다. 이러한 높은 수준의 호환성 (HA) 을 통해 시스템은 광범위한 테스트에 활용할 수 있으며 모든 기업에 적합한 자산입니다. 결국 FSM FSM 128 C2C 웨이퍼 테스트 (C2C Wafer Testing) 및 도량형 장치 (Metrology Unit) 는 다양한 제품과 부품에서 정확하고 정확한 결과를 제공하도록 설계된 고속, 효율적이고 비용 효율적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계입니다. 이 도구는 다이 첨부 (Die Attach), 비전 인식 (Vision Recognition) 및 레이저 기반 도량형과 같은 고급 기술과 전동식 6 축 단계를 활용하여 높은 수준의 성능을 제공합니다. 다양한 용도와 저렴한 비용으로, FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C 자산은 구성 요소를 빠르고 정확하게 테스트하고 측정하려는 모든 조직에 적합한 선택입니다.