판매용 중고 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 #9227398

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800은 최신 반도체 생산 환경의 요구를 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고급 온웨퍼 (on-wafer) 테스트 기술을 사용하며 단일 장치에서 반도체 장치의 광범위한 전기, 구조, 광학 매개변수를 테스트, 특성, 보고할 수 있습니다. 높은 정확도로 인해 FSM 8800 은 대용량 테스트 및 디바이스 특성에 적합합니다. 저항, 커패시턴스, 전류 전압 특성, 이동성, 캐리어 수명 등과 같은 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 또한이 장치에는 테스트 중인 장치의 빛 반사 및 흡수를 측정하기위한 수많은 회절 광학 (diffraction optics) 이 포함 된 최상위 광학 분광법 (top-of-the-line optical spectrometry) 기능이 포함되어 있습니다. 이 기계는 최고의 정확성, 반복성 및 높은 처리량을 제공하는 자동화된 플랫폼을 강조합니다. 표면 및 웨이퍼 층 내에서 구조와 이상에 대한 고해상도 (전자 현미경) 이미징 측정을 사용합니다. 또한 반복 (repeat), 결함 (defects), 크기 분포 (size distribution), 다이 영역 (die area) 과 같은 패턴 피쳐를 식별하고 측정하는 여러 가지 내장 알고리즘이 있습니다. FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800에는 PMIS (Production Management Information Tool) 와 같은 일련의 전문 소프트웨어 프로그램도 포함되어 있으며, 사용자는 데이터 분석, 모니터링 및 보고, 테스트 데이터의 적시에 완료할 수 있습니다. 또한 이 소프트웨어를 사용하면 테스트 단계에서 프로세스 매개변수 (process parameter) 를 효과적으로 관리하여 디바이스가 예상대로 수행되도록 할 수 있습니다. 또한, 이 에셋은 백엔드 Process Control UI 또는 Controller를 특징으로하며, 이를 통해 사용자는 테스트 프로세스를 제어할 수 있는 통합 플랫폼을 제공합니다. 또한 Wafer, Probe, Scanner 및 기타 테스트 기기를 포함하여 모델의 장치 및 구성 요소를 프로그래밍하고 관리할 수 있습니다. 이 기능을 사용하면 모든 컴포넌트를 추적하고, 필요에 따라 테스트 프로세스를 최적화할 수 있습니다. 전반적으로 8800 (Wafer Testing and Metrology) 장비는 종합적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 최고의 기존 및 고급 테스트 기술을 결합합니다. 또한 Optical Spectrometry, Automated Platform, PMIS 소프트웨어 및 Process Control UI와 같은 기능을 제공하여 정확하고 반복 가능하며 처리량이 많은 테스트를 수행할 수 있습니다.