판매용 중고 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128NT #293768602
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ID: 293768602
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2013
Film stress measurement system, 12"
Film stress range: 1 MPa to 1.4 GPa
Scan range: 3 mm
Mapping: 32 Scan lines with 40 Data points/mm
Bow measurement: up to 2000 μm
Wafer compatibility: 50 mm to 200 mm
High-precision single scan
Programmable multiple diametric scans for 2D/3D
Repeatability: 1% (1 Sigma) on a 20 m
Accuracy: <2.5% Based on a 20m
PC
Processor: Intel Core i5
Memory: 2 GB RAM
Hard Disk Drive (HDD): 1 TB
(4) USB Ports
(2) Ethernet ports
Operating system: Windows 7
Power supply: 110-220 V, 20 A
2013 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128NT는 전체 제품 품질을 향상시키는 데 도움이되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 정확하고 안정적인 측정, 도량형, 치수화 작업을 빠르고 효율적으로 수행하는 비접촉 (non-contact) 광 센서를 사용합니다. 다음과 같은 여러 응용 프로그램에 사용할 수 있습니다. 박막 평가, 스크라이브 라인 두께 측정, 오버레이 정확도 및 프로파일 측정. FSM 128NT 는 고품질 (High Quality) 및 결과의 정확성 향상을 위해 정확하고 자동화된 측정 프로세스를 제공합니다. 이 장치는 광학 현미경 머신 (Optical Microscope Machine) 과 광학 센서 측정 모듈 (Optical Sensor Measuring Module) 을 사용하여 사용자가 웨이퍼 치수를 정확하고 빠르게 측정할 수 있도록 설계되었습니다. 또한, 이 툴에는 다양한 형식으로 측정 데이터를 시각화할 수 있는 소프트웨어 (Software) 패키지가 포함되어 있습니다. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128-NT에는 16 비트 이미지 캡처 자산도 포함되어 있어 사용자가 추가 데이터 분석을 위해 이미지를 저장할 수 있습니다. 이 모델은 0.1mm x 0.1mm에서 0.7mm x 0.7mm 사이의 시야를 사용합니다. 통합 소프트웨어 패키지를 사용하면 사용자 정의 측정 템플릿을 만들고 레벨 (level) 이나 오프셋 (offset) 지점을 설정할 수 있습니다. 효율성과 정확성을 향상시키기 위해 장비를 사용하면 재료 라이브러리 매개변수를 가져올 수 있고 수집된 재료 데이터를 GD&T (Geometric Dimensioning and Tolerancing) 와 통합할 수 있습니다. 또한, 사용자는 최대 (maximum) 및 최소 (minimum) 값, 여백 등 다양한 응용 프로그램에 대한 매개변수 제한을 설정할 수 있습니다. FSM 128-NT에는 장비의 잘못된 경보 속도를 줄이기 위해 설계된 AR (Anti-reflection) 필름 감지 시스템이 장착되어 있습니다. 이 장치는 또한 한 번의 클릭 자동 보정을 제공하여 보다 빠르고 간단한 작업을 용이하게 합니다. 전반적으로, FRONTIER SEMICONDUCTOR 128NT는 신뢰성이 높고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계로, 다양한 유형의 산업에서 전체 제품 품질을 향상시키는 데 도움이됩니다. 이 도구는 다양한 어플리케이션 (application) 에 적합한 다양한 기능으로 설계되었습니다.
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