판매용 중고 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #9191116

ID: 9191116
빈티지: 2002
Film stress measurement system Wafer bow Dual ASYST FOUP loaders, 12" 2D & 3D Wafer mapping Auto dual laser switching for maximum flexibility Auto thickness measurement Brooks robot, 017-0266-01 Controller, 002-9400-04 Pre aligner, 017-0266-01 2002 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C는 반도체 테스트 웨이퍼 평가를 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고속, 가변 온도 환경에서 작동하여 반도체 웨이퍼를 종합적으로 분석 할 수 있습니다. FSM 128L C2C (FSM 128L C2C) 는 전체 측정 과정에서 웨이퍼의 온도, 습도 및 대기압을 정확하게 제어하여 정확한 결과를 보장합니다. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C는 3 가지 주요 구성 요소 (웨이퍼 테스트 단계, 측정 단계 및 모터 및 제어 장치) 로 구성됩니다. 웨이퍼 테스트 단계는 다양한 샘플 모양, 크기, 재료를 지원하며 최대 128mm (직경) 의 웨이퍼를 테스트할 수 있습니다. 측정 단계에는 내성, 전류, 정전량, 브리지 테스트 및 기타 전기 지표를 정확하게 측정할 수있는 광학 (optical) 및 전기 감지 기능이 장착되어 있습니다. 마지막으로, 모터 앤 컨트롤 머신 (motor and control machine) 은 테스트 및 측정 단계의 운영을 제어하여 프로그래밍 가능하고 자동화된 데이터 획득 및 온보드 도량형 분석을 허용합니다. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C는 위의 구성 요소 외에도 향상된 웨이퍼 정렬 및 모니터링을위한 다양한 기능을 제공합니다. 이 도구에는 편리한 인라인 웨이퍼 정렬 및 정렬을 위한 내장 카메라와 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 또한 통합 데이터 분석 (Integrated Data Analysis) 을 지원하여 테스트 웨이퍼에서 결함 있는 컴포넌트를 식별하고 분리하는 데 필요한 툴을 사용자에게 제공합니다. 마지막으로, 각 웨이퍼를 개별적으로 측정된 사이트로 자동 분할하여, 정확하고 세분화된 (granular) 데이터 보고 기능을 제공합니다. 전반적으로 FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C는 반도체 테스트 웨이퍼를 정확하게 테스트 할 수 있도록 설계된 기능이 풍부한 다목적 테스트 및 도량형 자산입니다. FSM 128LC2C 는 강력한 데이터 보고 및 분석 툴과 함께 고속, 가변 온도 연산 (Variable Temperature Operation) 을 통해 일관되고 안정적인 반도체 생산을 보장하는 이상적인 모델입니다.
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