판매용 중고 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #9293060

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128은 반도체 웨이퍼의 속성을 정확하고 신속하게 평가하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 높은 정확도, 고해상도 검사 시스템, 정교한 도량형 프로그램을 갖추고 있습니다. 이 장치는 기존 및 나노 미터 크기의 웨이퍼를 모두 처리 할 수 있으며, 빠른 웨이퍼 (wafer) 특성화 및 매핑을 제공하여 뛰어난 반복성과 안정적인 성능을 제공합니다. FSM 128은 고정밀 디지털 이미지 처리 머신으로 빠르고 정확한 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 분석을 가능하게 합니다. 이 공구는 웨이퍼 표면에서 절삭 모서리, 오염, 구멍 등과 같은 미세 및 서브 미크론 구조 결함을 감지 할 수 있습니다. 폭, 깊이, 선형성 등과 같은 다양한 매개변수를 제공하는 도량형 (metrology) 소프트웨어는 에칭 (etching) 및 리소그래피 (lithography) 프로세스로 인해 발생하는 프로세스 드리프트 및 항복 문제를 식별하는 데 도움이 됩니다. 에셋은 또한 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 의 다양한 부분의 평면 내 치수를 측정하고 비교할 수 있으며, 평면으로부터의 평면외 편차를 비교 할 수 있습니다. 프론티어 세미컨덕터 128 (FRONTIER SEMICONDUCTOR 128) 은 고속 웨이퍼 테스트를 제공하여 한 번에 최대 4 개의 보드를 처리할 수 있으며 초당 최대 1 백만 미크론에서 비접촉을 검사할 수 있습니다. 이 모델의 다른 기능으로는 자동 웨이퍼 로드 (automated wafer loading), 자동 결함 인식 (automatic defect recognition), 빠른 설정 및 작동을 위한 직관적인 사용자 친화적 소프트웨어 등이 있습니다. 또한, 장비에는 추가 분석을 위해 웨이퍼와 결함을 추적 할 수있는 통합 데이터베이스 (Integrated Database) 가 장착되어 있습니다. 사용 편의성과 신뢰성을 위해 설계된 128 (128) 는 강력한 하드웨어 설계와 최고의 성능과 정확성을 보장하는 특수 부품 (Special Component) 입니다. 또한 정확한 도량형 성능을 보장하기 위해 철저한 품질 보증 프로그램 (Quality Assurance Program) 및 광범위한 검증 테스트를 통과했습니다. 이 시스템은 거의 모든 사용 가능한 테스트 시스템과 호환되므로 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology) 응용 프로그램에 적합합니다.