판매용 중고 FRT MicroProf CWL300 #9173791

FRT MicroProf CWL300
ID: 9173791
Profilometer XY-Stage.
FRT MicroProf CWL300은 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 고급 장비 또는 기기입니다. 강력한 이미징 (Imaging) 및 측정 (measuring) 기술이 적용되어 웨이퍼 두께, 서피스 평면도 및 기타 특성에서 가장 미묘한 변화를 감지 할 수 있습니다. 이 시스템에는 평탄도 및 표면 특성을 측정하는 5x-50x 확대/축소 기능, 두께 및 곡률을 측정하는 구조화 된 라이트 서피스 프로파일러, 고해상도 검사를위한 이미지 획득 장치 (Image Acquisition Unit) 가 포함 된 광학 현미경이 포함되어 있습니다. MicroProf CWL300은 자동 레이어 두께 도량형을 제공하여 웨이퍼 레이어를 정확하고 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한 수심 측정을 위해 특허를받은 자동 초점 사인 기계가 장착되어 있습니다. 이 기술은 수동 재초점 (manual re-focusing) 의 필요성을 줄이기 위해 고안되었으며, 웨이퍼 레이어를 0.3 미크론까지 빠르고 정확한 도량형을 허용합니다. 이 도구에는 결함 검사를위한 고해상도 이미지 획득 자산도 포함되어 있습니다. 따라서 Wafer 의 불일치를 신속하게 검사할 수 있습니다. 이 모델은 또한 다양한 기능과 기능을 제공합니다. 석영, 도자기, 알루미늄, 스테인리스 스틸 및 기타 금속을 포함한 여러 매체에서 작동 할 수 있습니다. 표면 평평, 두께, 구조, 표면 거칠기, 곡물 크기, 탄소 나노 튜브 수 등 다양한 웨이퍼 특성을 측정 할 수 있습니다. 또한 주파수 범위가 최대 6GHz인 마이크로 웨이브를 측정 할 수 있습니다. FRT MicroProf CWL300은 설치와 사용이 용이하도록 설계되었습니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 온보드 (on-board) 도움말 기능을 통해 사용자가 장비를 쉽게 사용할 수 있습니다. 반복 가능한 측정과 연산자 (operator) 오차를 없애는 데 도움이 될 수 있도록 설계되었습니다. 이 장비에는 원격 액세스 및 데이터 전송을위한 온라인 서비스도 포함됩니다. 따라서 원격 모니터링 및 지원 (Remote Monitor and Support) 기능을 통해 필요에 따라 쉽게 성능을 모니터링하고 조정할 수 있습니다. 결론적으로 MicroProf CWL300은 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 강력하고 기능이 풍부한 시스템입니다. 설치, 사용, 그리고 정확하고 반복 가능한 측정값을 제공하도록 설계되었습니다. 자동화된 레이어 두께 도량형, 고해상도 이미징, 원격 서비스 기능을 갖춘 FRT MicroProf CWL300은 안정적인 웨이퍼 도량형을 찾는 사람들에게 이상적인 선택입니다.
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