판매용 중고 FREIBERG INSTRUMENTS XRD 200 #293813017

FREIBERG INSTRUMENTS XRD 200은 박막 샘플의 비파괴 분석을위한 새로운 표준을 설정하는 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 XRD (X-ray diffraction) 시스템은 반도체 재료에서 결정 구조 및 위상 조성을 정확하고 정확하게 측정하도록 설계되어 반도체 산업의 연구, 개발, 품질 관리를위한 필수 불가결한 도구입니다. XRD 200 (XRD 200) 은 다중 축 이동 기능이있는 고해상도 고니오미터 (goniometer) 를 갖추고 있어 매우 정밀하게 박막 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이 장치에는 X 선 (X-ray) 의 좁은 단색 빔을 생산하는 강력한 X 선 소스가 장착되어 박막 샘플에서 결정 구조 및 방향을 자세히 분석 할 수 있습니다. FREIBERG INSTRUMENTS XRD 200의 X- 선 검출기는 민감하며 고효율로 회절 된 X- 레이를 캡처하여 안정적이고 정확한 측정을 보장합니다. XRD 200 의 주요 특징 중 하나는 고급 데이터 획득 및 분석 소프트웨어로, 사용자는 X- 선 회절 데이터를 손쉽게 처리, 해석할 수 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 데이터 수집 및 분석 자동화 (Automated Data Collection and Analysis) 기능을 통해 의미있는 결과를 얻는 데 소요되는 시간과 노력을 줄일 수 있습니다. 사용자는 소프트웨어의 직관적인 인터페이스를 사용하여 결정학적 분석 (crystallographic analysis), 위상 식별 (phase identification), 피크 피팅 (peak fitting) 을 쉽게 수행할 수 있으므로 초보자와 숙련된 사용자에게 적합합니다. FREIBERG INSTRUMENTS XRD 200은 다양한 샘플 크기와 유형을 수용하여 다양한 연구/테스트 요구 사항에 적합하고 적응할 수 있도록 설계되었습니다. 이 기계는 소형 웨이퍼 (wafer) 에서 전체 웨이퍼 (full wafer) 에 이르는 샘플을 분석 할 수 있으며, 사용자는 차원과 조성이 다른 박막 (thin film) 의 결정적 특성을 연구 할 수 있습니다. XRD 200 (XRD 200) 은 또한 정확한 샘플 포지셔닝 및 정렬을 가능하게 하는 전동식 (motorized) 단계를 갖추고 측정의 정확성과 반복성을 더욱 향상시킵니다. 수정 학적 분석을위한 고급 기능 외에도, FREIBERG INSTRUMENTS XRD 200에는 기능 및 사용성을 향상시키는 다양한 보조 기능이 장착되어 있습니다. 이 도구에는 샘플 로딩 및 언로드 자동화, 테스트 프로세스 간소화, 처리량 증가를 지원하는 샘플 체인저 (sample changer) 가 장착되어 있습니다. XRD 200은 또한 통합 안전 메커니즘을 통해 운영 중 사용자 보호 및 자산 안정성을 보장합니다. 전반적으로 FREIBERG INSTRUMENTS XRD 200은 첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델로, 연구자와 엔지니어에게 박막 샘플의 결정 학적 특성을 연구하기위한 강력한 도구를 제공합니다. XRD 200은 고해상도 고니오미터 (goniometer), 고급 데이터 획득 소프트웨어 (advanced data acquisition software) 및 다목적 샘플 처리 기능을 통해 X- 선 회절 분석에서 탁월한 성능과 정확성을 제공하여 반도체 연구 개발을위한 필수 도구입니다.