판매용 중고 FOUR DIMENSIONS CV92-A #9124771

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ID: 9124771
Mercury probe CV mapper, 8" Embedded computer and a PC Drawer for receiving the wafer CV map software power: 100 / 115 / 230 VAC, 50 / 60 Hz 300 W Compressed air 60 psi Minimum vacuum 28 in. Hg at 22 l/min Minimum table footprint: 20 x 22 x 13.
4 차원 CV92-A는 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템의 최신 발전입니다. 이 새로운 장비는 전체 종단간 웨이퍼 프로세스 흐름 (full-to-end wafer process flow) 을 테스트하고 특성화하여 계산된 결과를 여러 매개변수에 사용할 수 있도록 하는 완전 자동화 솔루션입니다. FOUR DIMENSIONS Inc. 의 엔지니어가 설계하는이 시스템은 비용을 최소화하는 동시에 더 높은 품질 (Quality Assurance) 을 제공하는 훌륭한 도구입니다. FOUR DIMENSIONS CV92A 는 모듈식 디바이스 인터페이스를 기반으로 하며, 운영자가 프로세스 변형을 쉽게 수행할 수 있습니다. 이 장치는 수동 (manual) 및 자동 (automated) 테스트 장비와 직접 상호 작용하여 사용자가 기계를 기존 워크플로에 통합할 수 있습니다. 또한, 이 도구에는 대용량 샘플 처리 시스템, 고효율 처리량 센서 등의 주변 장치가 장착되어 있습니다. 또한 CV 92A 에는 강력한 사용자 인터페이스 (user interface) 가 장착되어 있어 운영자가 프로세스 매개 변수와 테스트 결과를 신속하게 액세스할 수 있습니다. 모든 테스트 결과는 보안 데이터베이스에 자동으로 로그인되어 쉽게 분석, 조회할 수 있습니다. 이 에셋에는 사용자 정의 가능한 웨이퍼 분석 리포트 (wafer analysis) 기능도 포함되어 있으므로 프로세스 요약을 대화형 그래프 (interactive graph) 나 차트 (chart) 로 확인할 수 있습니다. CV92A 는 완벽한 프로세스 흐름을 위한 다양한 테스트 및 측정 기능을 제공합니다. 이 모델은 고속 자동 열 이미징 (automated thermal imaging) 프로세스를 통해 웨이퍼 각 레이어의 실시간 열 데이터를 제공합니다. 또한, 장비는 저항, 누출 전류, 유전율 상수 등 다양한 전기 특성을 측정 할 수도 있습니다. 또한, 이 시스템에는 광학 현미경 (optical microscopy) 이나 표면 분석 (surface analysis) 과 같은 추가 도량형 기술이 장착되어 추가 특성화가 가능합니다. CV92-A는 프로세스 흐름을 간소화하고 품질 보증을 향상시키는 데 적합한 도구입니다. 이 장치의 모듈식 설계는 운영 가동 시간을 보장하며, 기존 워크플로에 쉽게 통합할 수 있습니다. 시스템의 고속 (High Speed) 및 정확한 측정 기능을 통해 필요한 성능 사양을 충족할 수 있습니다. 따라서, 이 툴은 완벽한 Wafer 프로세스 흐름을 테스트하고 특성화하기 위한 효율적이고 경제적인 솔루션을 제공합니다.
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