판매용 중고 FOUR DIMENSIONS 280 #293639176
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ID: 293639176
웨이퍼 크기: 6"
Four point probe resistivity measurement system, 6"
1995-1996 vintage.
4 차원 280 (FOUR DIMENSIONS 280) 은 반도체 집적 회로의 무결성을 측정하고 테스트하는 데 사용되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비 유형입니다. 이 시스템은 다양한 고객의 요구를 충족할 수 있도록 고유한 제형 (formulation) 과 오퍼링을 구축할 수 있습니다. IC 의 성능을 파악하고 테스트할 수 있도록 하는 여러 가지 고급/정교한 (advanced/significated) 기술이 있습니다. 280 장치에는 이동식 (movable) 고속 광학 스테이지가 장착되어 있어 정확한 측정이 가능하며 강력한 프로그래밍 인터페이스 (programming interface) 와 자동화 기능이 있습니다. 이 기계는 또한 빔 스캐너, 프로그래밍 가능한 자동 광학 인식 및 정확한 측정을위한 패턴 인식 (pattern recognition) 을 포함하는 고급 풀 비전 광 현미경을 가지고 있습니다. 이 기술은 결함 있는 전기 성능 (electrical performance) 의 가능성을 최소화하고 미크론 (micron) 의 일부 내에서 정확한 측정을 제공합니다. 이 도구에는 정확한 해상도 및 정확도 측정으로 높은 정확도를 제공하는 정확한 웨이퍼 투 웨이퍼 (wafer-to-wafer) 등록 자산도 제공됩니다. FOUR DIMENSIONS 280은 또한 사용자가 자체 축 및 서피스 측정을 구성할 수 있는 통합 측정 도구를 제공합니다. 측정 결과는 정밀도, 해상도, 정밀도가 높은 실시간 그래픽 디스플레이 인터페이스에 표시될 수 있습니다. 또한 사용자는 애플리케이션별 결함 분석 알고리즘을 개발할 수 있도록 설계된 최첨단 도량형 (state-of-the-art) 소프트웨어 패키지도 함께 제공됩니다. 이를 통해 자동 조리개 메트릭, 결함 평가 및 기타 다양한 자동 작업이 가능합니다. 또한 벡터 트리밍, 벡터 비교 및 오류 추적을위한 통합 벡터 파일 측정 및 벡터 편집 패키지가 포함되어 있습니다. 280 장비는 반도체 산업을위한 포괄적 인 도구입니다. 정밀한 측정, 자동화된 결함 분석 (automated defect analysis) 및 벡터 처리 (vector processing) 기능을 제공하여 결함의 가능성을 최소화하고 안정적인 반도체 제품을 효율적으로 생산할 수 있습니다. 성능, 정확성, 정확성 (Precision) 은 탁월한 성능으로, 고객에게 고객의 요구를 충족시킬 수 있는 탁월한 시스템을 제공합니다.
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