판매용 중고 FORMULA R #9101879

FORMULA R은 생산량 모니터링 및 프로세스 최적화를 능률적으로 처리하도록 설계된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. Wafer Testing (웨이퍼 테스트), Metrology (도량형) 및 Yield Analysis (수익률 분석) 기능을 사용하여 사용자가 Wafer 항복 및 프로세스 변동성을 측정, 분석 및 보고할 수 있습니다. 이 시스템은 특허를받은 전도성 (conductive) 및 비전도성 (non-conductive) 트랜스듀서를 사용하여 웨이퍼의 활성 및 수동 계층 모두에서 전기 신호를 감지하고 측정합니다. 동선 패드 (copper pad) 구조에 도전하는 경우에도 탁월한 정확성과 반복성을 달성하도록 설계되었습니다. "트랜스듀서 '는 또한 열" 드리프트' 를 최소화 하여 일관성 있는 측정 환경 을 유지 하도록 설계 되었다. 이 장치에는 또한 운영자가 웨이퍼 수율 데이터를 신속하게 측정, 분석, 보고 할 수있는 강력한 소프트웨어 제품군이 포함되어 있습니다. 테스트/보고 작업을 최적화할 수 있는 유연성과 자동화 기능을 제공하는, 구성 기능이 뛰어난 테스트 환경을 제공합니다. wafer test (웨이퍼 테스트) 보고서 출력을 쉽게 사용자 정의하여 사용자가 원하는 세부 정보를 정확하게 지정할 수 있습니다. 또한, R은 웨이퍼 형상, 선 너비 및 피쳐 모양을 측정하는 웨이퍼 도량형 기능을 제공합니다. 또한 구리 필름 (copper film) 의 두께 (thickness) 를 측정하는 기능을 제공하여 제조 공정의 품질 문제를 감지하는 데 도움이됩니다. 도량형 데이터는 웨이퍼 수율 분석에 포함되어 웨이퍼 제조 결함을 식별하고 추적 할 수도 있습니다. 이 기계는 SiP, RF 및 LED 제품 제조업체를 포함한 다양한 생산 및 연구 응용 프로그램에 사용하도록 설계되었습니다. 와퍼 (Wafer) 테스트 처리량 및 정확도를 극대화하는 포괄적인 솔루션을 제공하며, 테스트 설정 및 주기 시간을 최소화합니다. 이 도구는 사용자에게 친숙한 기능으로, 모든 기능을 제어할 수 있는 직관적인 인터페이스를 제공합니다. 전반적으로 FORMULA R 은 강력한 신뢰성을 갖춘 툴로서, 모니터링 및 프로세스 최적화를 실현합니다. 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 와 도량형 (Metrology) 기능을 결합하여 제조 및 항복 분석을 위한 포괄적인 솔루션을 제공하여 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 이 자산은 세계 최고 수준의 고객 지원 (Customer Support) 을 통해 지원되며, 이를 통해 사용자는 모델의 가치를 극대화하여 프로세스 효율성을 높이고 수익률을 높일 수 있습니다.