판매용 중고 FILMETRICS F50 #293636820

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ID: 293636820
Thin film mapper.
FILMETRICS F50 (FILMETRICS F50) 은 반도체 제조업체가 비용을 절감하고 제품의 품질과 성능을 향상시킬 수 있도록 설계된 모든 종합 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이중 빔 광학 시스템으로서 FILMETRICS F 50은 불투명, 투명, 다결정 및 비정질 물질을 포함한 다양한 재료에 대한 고해상도 이미징 및 3D reconstr 유출을 제공 할 수 있습니다. F50 은 고해상도 측정 기능 (High Resolution Measurement Capability) 을 포함하여 성능을 향상시키도록 설계된 여러 가지 기능을 제공합니다. 즉, 사용자가 단일 또는 이중 레이어의 두께를 20 나노미터만큼 정확하게 측정할 수 있습니다. 또한, 이 단위는 플랫 (flat) 또는 커브 (curved) 서피스 및 다중 계층 (multi-layered) 샘플을 포함하여 다양한 샘플 모양을 측정할 수 있습니다. 또한, F 50은 고정밀 에지 감지 기능으로 다양한 결함을 정확하게 감지하고 측정 할 수 있습니다. FILMETRICS F50 (FILMETRICS F50) 은 직관적인 사용자 인터페이스 덕분에 매우 다양한 기계로, 설치 및 작동이 용이합니다. 터치스크린이 장착된 사용자는 파일 (FILMETRICS) F 50 메뉴 도구를 쉽게 탐색할 수 있으며, 측정되는 샘플에 맞게 설정과 매개변수를 쉽게 조정할 수 있습니다. 또한, 강력한 소프트웨어로 인해 F50은 매우 자동화되어 필름 스트레스 측정 (film stress measurement), 시트 저항 테스트 (sheet resistance test), 굴절률 검사 (refractive index scan) 등 여러 가지 다른 테스트를 자동으로 실행하여 시간과 노력을 절약할 수 있습니다. 전반적으로 F 50 은 반도체 제조업체가 비용을 절감하고 제품의 품질과 성능을 향상시키도록 설계된 탁월한 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 자산입니다. 다양한 기능과 사용자에게 친숙한 인터페이스를 갖춘 FILMETRICS F50 (FILMETRICS F50) 은 설정과 매개변수를 정확하게 조정하고, 다양한 결함을 감지하고, 측정하고, 다양한 샘플 모양을 측정할 수 있습니다. FILMETRICS F 50을 사용하면 WAFER를 빠르고 효율적으로 테스트하고 측정할 수 있습니다.
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