판매용 중고 FILMETRICS F40 #293827754

ID: 293827754
웨이퍼 크기: 4"
Thin film analyzer, 4" Silicon Carbide (SiC).
FILMETRICS F40 (FILMETRICS F40) 은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로 반도체 웨이퍼 검사를 위해 높은 수준의 정확성과 정밀도를 제공합니다. 이 시스템은 혁신적인 광학 및 전기 기술 제품군과 결합 된 최첨단 로봇 공학을 사용하여 표면 거칠기, 심층 형태, 박막 두께, 기타 다양한 재료 특성을 신속하게 측정합니다. 이 장치는 거의 모든 크기의 웨이퍼 (wafer) 를 측정 할 수 있으며, 빠른 배치 처리를 위해 특별히 설계되었습니다. 기계는 두 가지 기본 구성 요소 (주 도구와 검사 스테이션) 로 구성됩니다. 주요 자산에는 모든 데이터 취득 구성 요소, 소프트웨어, 전동 단계, 광/전기 구성 요소가 포함됩니다. 자동 프로덕션 환경에 통합되도록 설계되었습니다. 검사 스테이션은 모델의 중심입니다. 다양한 광학/전기적 패라메트릭 (parametric) 테스트 인터페이스를 포함하는, 사용자 정의가 가능하고 처리량이 많은 검사 플랫폼입니다. FILMETRICS F 40 은 모듈식 플랫폼 (modular platform) 을 기반으로 하여 특정 애플리케이션 및 웨이퍼 크기에 맞게 조정할 수 있습니다. 각 장비는 고객의 정확한 사양에 맞춰 제작되었으며, 시스템을 완벽하게 맞춤형으로 구성할 수 있는 다양한 소프트웨어 (software) 패키지가 있습니다. F40은 광학 파도 분광법, 스캔 거울, 회절 광학, 디지털 이미징 등 다양한 광학 기술로 활성화됩니다. 또한, 이 단위는 두께 측정, 서피스 릴리프, 이미지 분석을위한 전기 및 광학 기술을 모두 지원합니다. F 40은 웨이퍼 테스트 및 도량형 어플리케이션을 위해 특별히 설계된 통합 소프트웨어 제품군으로 구동됩니다. 이 제품군은 직관적이고 사용자 친화적으로 설계되었으며, 이를 통해 사용자는 패라메트릭 (parametric) 테스트를 빠르고 쉽게 설정하고 수행할 수 있습니다. 또한 데이터 정확성을 신속하게 검증할 수 있는 다양한 데이터 분석/쿼리 툴도 포함되어 있습니다. FILMETRICS F40 은 품질 보증, 신뢰성 테스트, 연구/개발 등 다양한 wafer 테스트/도량형 애플리케이션에 이상적인 솔루션입니다. 이 기계의 모듈식 (modular) 설계로 사용자 정의가 가능하며, 통합 소프트웨어 제품군은 광범위한 기능을 더욱 향상시킵니다. 웨이퍼 테스트 및 도량형에서 최고의 정확성과 정밀도를 보려면 FILMETRICS F 40을 선택합니다.
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