판매용 중고 FILMETRICS F20 #9383569

FILMETRICS F20 (FILMETRICS F20) 은 광범위한 반도체 장치를 매우 정확하고 효율적으로 특성화 할 수 있도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 박막 (Thin Film) 과 벌크 (Bulk) 기판의 측정에 대한 업계 최고의 성능을 제공하여 사용자에게 미크론 (Micron) 및 나노미터 (Nanometer) 스케일에서 매우 정확한 측정을 제공합니다. FILMETRICS F 20 (FILMETRICS F 20) 에 사용되는 하드웨어와 소프트웨어의 강력한 조합을 통해 장치가 높은 정확도로 다양한 속성을 측정 할 수 있습니다. 통합 레이저 기반 계측기 (integrated laser based instrumentation) 는 모든 두께의 단색 필름에서 고해상도 광학 데이터를 수집하는 반면, 통합 이미징 머신은 나노 (Nano) 및 미크론 (Micron) 스케일 해상도에서 높은 정밀도를 구현합니다. 하드웨어와 소프트웨어의 결합은 데이터 획득 (data acquisition) 과 분석 환경 (analysis environment) 에 뛰어난 측정 정확도와 반복 기능을 함께 제공합니다. 이 도구는 사용자 경험을 향상시키기 위해 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 광학 밀도 (optical density), 레이어 두께 (layer thickness) 및 재료 구성 (material composition) 과 같은 측정 매개변수는 다양한 독점 알고리즘 덕분에 정확하게 특성화될 수 있습니다. F20 은 또한 그래픽 데이터 표현, 데이터 상관 관계 분석, 통계 분석 등을 통해 테스트 과정에서 수집한 데이터의 품질을 모니터링하는 포괄적인 분석 툴박스를 제공합니다 (영문). 통합 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 는 사용이 쉽고 직관적이므로, 사용자가 신속하게 에셋을 통해 속도를 높일 수 있습니다. F 20 에 사용된 하드웨어와 소프트웨어의 강력한 조합으로, 투명 필름 (transparent film) 과 반투명 필름 (semi-transparent film) 모두 광범위한 재료를 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다. 여기에는 ITO, OLED, CIGS, 산화물, 금속 및 폴리머와 같은 재료뿐만 아니라 생의학 응용 분야와 같은 더 복잡한 구조가 포함됩니다. 또한 유연하고 쉽게 구성할 수 있습니다. 사용자가 설정을 사용자 정의할 수 있는 다양한 옵션 (예: 프로젝트 요구에 따라 샘플 크기, 거리, 각도 조정 기능) 이 있습니다. 또한 FILMETRICS F20 은 데이터 분석과 관련하여 유연성을 제공하며, 결과를 막대 그래프, 보고서, 표로 내보낼 수 있는 옵션을 제공합니다. 요약하면, FILMETRICS F 20 (FILMETRICS F 20) 은 다양한 반도체 장치의 빠르고 정확한 특성을 제공하는 강력한 장비로, 모든 두께와 복잡성의 재료를 빠르고 효과적으로 분석 할 수 있습니다. 고급 레이저 기반 계측기, 통합 이미징 기능, 종합적인 분석 툴박스 (analytical toolbox) 를 결합함으로써 F20은 사용자에게 재료 특성화에 탁월한 속도와 정확도를 제공합니다.