판매용 중고 FILMETRICS F20-UVX #293814728

FILMETRICS F20-UVX는 제조 후 특성화부터 프로세스 제어에 이르기까지 다양한 애플리케이션을 위해 설계된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 최첨단 시스템 측정 범위는 210nm에서 1100nm이며, 다양한 초점, 자동 기울기, 고밀도 스텝 높이 스캔, 빠른 이미징 등 다양한 기능을 제공합니다. 이 장치는 Windows 10, Win7, Win8 및 XP 플랫폼과 호환되며 20 배의 객관적이고 특허를 획득한 고급 옵틱과 함께 제공됩니다. 이 기계는 전례없는 정확성, 반복성, 유연성을 제공하여 웨이퍼 (wafer) 또는 장치의 물리적/전자적 특성을 정확하게 측정할 수 있습니다. F20-UVX는 측정 편향과 오류를 제거하는 독특한 특허 간섭계 도구를 사용합니다. 정밀도 (precision optics) 는 매우 작은 기능을 정확하고 반복적으로 측정할 수 있도록 하며, 매우 높은 처리량을 제공합니다. FILMETRICS F20-UVX는 이중 축 piezo 활성 스캐너와 작동하여 최소 진동으로 샘플 이동을 정확하게 제어 할 수 있습니다. 이를 통해 도량형 자산은 0.25 미크론의 해상도를 달성 할 수 있습니다. 또한, F20-UVX는 지형 기능, 표면 화학 및 기타 작은 기능을 측정하는 데 사용될 수 있습니다. FILMETRICS F20-UVX는 사용이 간편하며, 사용자 친화적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 이해하기 쉬운 분석 도구를 제공합니다. 또한 빠른 배치 처리, 낮은 소음 및 높은 동적 범위 스캔, 절대 스텝 높이 측정, 종합적인 이미징 기능 등 wafer test 및 metrology 애플리케이션을위한 포괄적인 툴을 제공합니다. F20-UVX는 또한 안전을 염두에 두고 설계되었으며, 낮은 EMI 전원 공급 장치를 사용하여 간섭을 줄이고 우수한 전기 격리를 제공합니다. 또한, 실험실 설정에서 안전한 작동을위한 통합 유해 재료 수집 모델 및 공기 필터 (air-filter) 가 특징입니다. 전반적으로 FILMETRICS F20-UVX는 뛰어난 정확도, 정밀도 및 반복 성을 제공하는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 제조 후 프로세스 제어 (post-fabrication process control) 및 특성 (characterization) 에서부터 고급 이미징 및 지형 측정에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 독보적인 기능, 사용하기 쉬운 GUI (그래픽 사용자 인터페이스), 통합형 안전 시스템 등을 갖춘 F20-UVX는 다양한 어플리케이션에 적합한 강력하고 안정적인 도량형 장치입니다.