판매용 중고 FILMETRICS F20-UV #293820561

FilmTronics FILMETRICS F20-UV는 가장 까다로운 웨이퍼 제작 프로세스를 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 최대 1 미크론 두께의 박막을 측정하기 위해 고속, 고감도, 강한 정확도의 조합을 제공하며, 투명 필름을 0.08 미크론 두께까지 측정 할 수 있습니다. FILMETRICS F 20 UV는 대용량 동적 범위, 초고해상도, 고속 스캔 속도, 상세한 표면 지형지도 생성을위한 강력한 분석 소프트웨어 등 다양한 기능을 제공합니다. 또한 가장 높은 정확도를 보장하기 위해 가변 초점 평면 및 스테퍼 컨셉이 특징입니다. 신뢰할 수있는 결과를 얻기 위해 F20-UV는 경량 현미경, 분광계 및 표면 프로파일러를 결합하는 고유 한 표면 도량형 (SM) 기술을 사용하여 광범위한 응용 분야에 걸쳐 전례없는 정확성을 제공합니다. 이 기술은 SMM의 고출력 렌즈 (high-power lenses) 를 사용하여 샘플 서피스를 조명하는 반면, 분광계는 전송되거나 반사된 신호를 여러 각도로 측정하여 박막 두께를 계산합니다. 시스템은 수직 (vertical) 및 측면 (lateral) 치수와 스트라이프 (stripe) 및 노치 (notch) 너비 등의 방향 텍스처를 측정할 수 있습니다. 도량형 소프트웨어는 프로파일 트로폴로지 및 경사 각도 분석을 위해 모듈을 사용하여 3D로 표면을 분석 할 수 있습니다. 소프트웨어 제품군은 또한 고급 데이터 시각화, 전력 소산 상관 관계, 곡물 크기, 수, 입자 크기 등을 제공합니다. 또한, 통합 광 전자 장치 (optoelectronic unit) 를 사용하여 표면 지형 분석을 더욱 강화할 수 있습니다. 이 기계는 광학 상수 (optical constants) 와 필름 두께 (film thickness) 의 측정과 샘플 표면의 미세한 이미지를 제공하는 데 매우 유용합니다. F 20 UV 의 직관적인 사용자 인터페이스는 읽기 쉬운 디스플레이와 직관적인 단계별 작동을 제공합니다. 운영자는 맵 (map) 과 테이블 (table) 을 포함하여 수집된 모든 데이터를 완전히 보안 된 데이터베이스에 저장할 수 있으므로 동일한 웨이퍼에서 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. FILMETRICS F20-UV에는 모든 유형의 기판을 수용 할 수있는 다양한 필름 샘플 홀더가 제공됩니다. 전반적으로 FilmTronics FILMETRICS F 20 UV는 박막 및 표면의 신뢰할 수있는 측정과 분석을 제공하는 신뢰할 수있는 견고한, 견고한, 고정밀 도구입니다. 직관적 인 작동과 함께 속도, 정확도, 해상도의 조합으로, 빠르고 신뢰할 수있는 웨이퍼 도량형에 이상적입니다.