판매용 중고 FILMETRICS F20-UV #293592882

FILMETRICS F20-UV Wafer Testing and Metrology Equipment는 광학 이미징, 도량형 및 웨이퍼 레벨 특성화 기능의 독특한 조합을 특징으로합니다. 이 시스템은 장치 특성화 또는 프로세스 개발을 위해 반도체 웨이퍼에 있는 박막 (Thin film) 의 처리량, 자동 테스트 및 도량형을 위해 설계되었습니다. 이 제품은 다양한 형식의 반도체 웨이퍼에서 박막 (thin film) 의 하위 미크론, 미크론 및 나노 미터 두께 변형을 측정할 수 있으며 임의의 패턴 크기, 모양 및 불투명 마스크를 사용할 수 있습니다. FILMETRICS F 20 UV에는 독점, 비 간섭 스펙트럼 반사계 및 이미징 머신으로 구성된 파장 튜닝 가능한 레이저 유닛이 포함되어 있으므로 불투명 필름 구조의 두께를 빠르게 측정 할 수 있습니다. 이 반사계 (reflectometer) 및 이미징 도구는 가시적 (visible) 및 자외선 스펙트럼 전체에서 작동하여 다양한 절차에 적합한 유연한 솔루션을 제공합니다. 또한, 이 자산은 고출력, 고해상도 이미징 기술을 사용하여 낮은 샘플링 주파수를 감지하고 결함 정보를 산출합니다. 이 모델에는 컴퓨터 소프트웨어 패키지도 포함되어 있는데, 이 패키지는 Wafer 데이터를 빠르고 효율적으로 분석하는 데 이상적인 사용하기 쉬운 인터페이스입니다. 이 소프트웨어 패키지는 데이터를 직관적으로 그래픽으로 표시하고, 사용자가 관심 있는 기능을 모니터링, 비교, 강조할 수 있도록 합니다. 이 소프트웨어는 또한 2D 및 3D 그래프 기능을 제공하여 고급 데이터 분석 및 시각화를 제공합니다. 성능 측면에서 F20-UV 는 다양한 웨이퍼 유형에 높은 해상도, 빠른 측정 속도, 필름 두께 및 거칠기 (roughness) 를 제공합니다. 그 정확성과 사용 편의성은 장치 특성화, 프로세스 개발에 이상적인 선택이라 할 수 있습니다. 이 장비는 또한 열악한 환경 운영에 적합하여 다양한 어플리케이션 (application) 에 적합합니다. 전반적으로 F 20 UV Wafer Testing and Metrology System은 반도체 웨이퍼에서 박막의 처리량, 자동 테스트 및 도량형을 용이하게하도록 설계된 고급적이고 신뢰할 수있는 장치입니다. 이 도구는 파장 튜닝 가능한 레이저 머신, 이미징 기술, 사용자 친화적 인 소프트웨어 (user-friendly software) 의 조합으로, 필름 두께와 웨이퍼의 거칠기를 정확하고 반복적으로 측정하는 포괄적인 솔루션을 제공합니다.