판매용 중고 FILMETRICS F20-NIR #293737711

ID: 293737711
Thickness measurement system PC available.
FILMETRICS F20-NIR은 고급 반도체, 광전자 및 광전자 장치의 생산, 공정 제어 및 개발을 지원하도록 설계된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 웨이퍼 텍스처링 (wafer texturing), 포커싱 (focusing) 및 컨택트 앵글 (contact angle) 측정의 조합을 제공하여 다양한 광학 재료를 위한 초소형 해상도를 제공합니다. 이 장치에는 3D 계산, 이미지 분석, 서피스 텍스처, 광학 서피스 프로파일 등 다양한 도량형 기능이 있습니다. 또한 colorimetry, fluorescence, radiation 및 photo detection과 같은 다양한 고유 한 테스트 기능을 제공합니다. 고급 광학 기능을 갖춘 F20-NIR (F20-NIR) 은 몇 나노 미터까지 해상도로 패턴 화 된 기판을 특성화할 수 있습니다. 이 기계는 또한 광범위한 공간 및 시간적 이미징 솔루션을 제공하여 다이 (in-die) 결함 검사 및 분석을 가능하게합니다. FILMETRICS F20-NIR 의 광학 기능은 강력한 통합 소프트웨어 제품군을 보완하여 다양한 처리/분석 툴을 제공합니다. 이 소프트웨어는 이미지 캡처, 데이터 조작, 광 구성 요소 조작을 위한 사용자 편리한 인터페이스를 제공합니다. 이 소프트웨어는 또한 이미지 개선, 색상화 및 세로 응력 분석을위한 고급 알고리즘을 제공합니다. 이 도구는 또한 최대 200Hz의 자동 초점 및 자동 전송 속도를 통해 빠른 응답 시간을 제공합니다. 고속 (High Speed) 을 사용하면 백스캐터 및 서피스 이미지 모두에서 표면 토폴로지, 드리프트 및 접촉 각도를 자세히 평가할 수 있습니다. F20-NIR 자산은 오버레이 도량형, 필름 두께 측정, 광학 검사, 결함 분석 및 표면 프로파일링과 같은 반도체 장치 및 웨이퍼 특성 응용 프로그램에 이상적입니다. 유연성과 속도는 광전자, 마이크로 일렉트로닉스, 광전자, MEMS, 자동차, 항공 우주 등 다양한 산업에서 웨이퍼 및 장치 테스트에 이상적인 선택입니다.
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